Occasion PHILIPS / FEI Quanta 3D #293830914 à vendre en France
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PHILIPS/FEI Quanta 3D est un microscope électronique à balayage très avancé (SEM) conçu pour l'imagerie précise et la caractérisation des caractéristiques nano-échelle. Il est optimisé pour l'imagerie haute résolution des surfaces, des topographies et des matériaux à l'échelle nanométrique et atomique. FEI Quanta 3D dispose d'un large éventail de capacités d'imagerie, y compris l'imagerie des défauts cristallins, des limites des grains et des nanostructures ; l'imagerie de bouts à haute résolution pour l'imagerie à l'échelle atomique ; et capacité STEM. Parmi les autres caractéristiques, mentionnons la lithographie en faisceau électronique pour l'établissement de petites caractéristiques sur un substrat, l'échange automatisé d'échantillons pour une caractérisation rapide et facile des échantillons et une large gamme de fonctions automatisées et programmables. PHILIPS Quanta 3D dispose également d'une visionneuse environnementale à couplage optique avancé qui capture des images claires de spécimens dans différents environnements, du vide du SEM à la pression d'une conduite humide ou sèche. Cela permet l'imagerie dynamique de spécimens tels que des échantillons de cellules sèches et de tissus. Le microscope électronique à balayage Quanta 3D utilise une combinaison d'un champ électrostatique et magnétique pour accélérer les électrons dans le faisceau d'électrons. Cela permet d'ajuster des résolutions allant jusqu'à 10 nanomètres avec une gestion de la dose d'électrons pour minimiser la charge des échantillons et améliorer le contraste de l'image. PHILIPS/FEI Quanta 3D est accompagné d'une interface utilisateur graphique intuitive qui permet de contrôler tous les aspects du fonctionnement SEM, tels que la résolution, l'amplification et les courants de faisceau. En outre, il est équipé de divers outils matériels et logiciels pour acquérir une large gamme d'images à partir d'échantillons de tailles variables. FEI Quanta 3D de FEI est un excellent outil pour l'imagerie et la caractérisation nano-échelle. Les capacités d'imagerie avancées combinées à une interface utilisateur hautement intuitive en font l'un des instruments les plus puissants pour analyser les matériaux nanométriques.
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