Occasion PHILIPS / FEI Quanta 400 #293585905 à vendre en France
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Vendu
ID: 293585905
Scanning Electron Microscope (SEM)
Dispersive X-Ray detector
Ultra-thin detector window
Backscatter electron detector
USB controller:
DC-Isolated USB 2.0 Interface
HV-VAC Controller:
DAC Uni / Bipolar: ± 10 V (8 x 16 bit)
ADC for emission (5 x 10 bit)
VAC
Operating voltages
(16) Digital inputs and outputs
Security link to vacuum system
Control power supply
Turn-on of power supply
Emergency turn-off of electronics at malfunction
Module for deflection coils:
(2) Single deflection systems
(4) Double deflection systems
Magnification: 4 step and 16 bit
Scan rotation
Scan shift fine
Correction of tilt
Orthogonality
Rotation offset
Module with bipolar power supplies:
DAC for current/voltage supplies (8 x 16 bit)
Beam shift
Tilt coils
Image shift coils
Stigmator coils (8 pole)
Filament imaging
Stigmator image
Power supply: 4 x ±500 mA, 4 x ±10 V
Module for objective lens and condenser lenses:
Unipolar power supply
Objective lens: 2 x 16 bit DAC (coarse, fine), maximum 6.5 A
(2) Condenser lenses: 16 bit DAC, maximum 6.5 A
Image system:
Maximum pixels: 16384 x 16384
Pixel clock: 200 ns
D/A Converter for analog input signals (4 x 12 bit)
Counter for mapping (12 x 16 bit)
Simultaneous acquisition
(4) Analogs
(12) Digital input signals
Image acquisition
Windows 2000: Up to 10 (x86, x64)
Full screen mode
Slow scan
Mapping
Oversampling for noiseless images: Up to 32000
Line averaging
Frame averaging
Reduced area scan
ROI Scan
Qualitative and quantitative with EDS/WDS
AVI Function
Signal monitor to control image signals
Trigger inputs and clock outputs for point
Mains synchronization for slow scan
Thumbnail bar for acquired images
Image processing:
Image browser
Loading and saving of images file types: TIFF, BMP, JPEG, PNG, GIF
Auto save function
Creation of image sections
Image rotation
Image labeling functions
SEM Parameters
Power supply:
Analog power supplies: ±15 V, +5 V, +12 V
Switching power supply for high power objective and condenser lenses
Module for PMTs: 2 x 0 to 1.5 kV
Module for scintillator: 12 kV
Grid voltage: 0 V to 400 V.
PHILIPS/FEI Quanta 400, ou Q400 en abrégé, est un microscope électronique à balayage (SEM) conçu pour la caractérisation des matériaux et l'analyse médico-légale. Il dispose d'une source d'émission de champ - une petite source d'électrons localisée au cœur du SEM. Cela permet à l'instrument de collecter des images d'électrons à haute résolution, des cartes et des spectres sur un large éventail de types d'échantillons. Le Q400 est un système à l'état solide et ne nécessite donc pas d'azote liquide pour le refroidissement. Le système dispose d'un grand contrôleur de résolution numérique pour fournir un courant de faisceau précis et précis à l'échantillon. Pour l'imagerie, le Q400 peut fournir des images de contraste élevé avec une résolution allant jusqu'à 0,5nm, permettant de déterminer avec précision la topographie de surface. De plus, ses capacités SEM peuvent être utilisées pour obtenir des informations de cartographie chimique avec EDS (spectroscopie dispersive d'énergie), permettant une cartographie élémentaire rapide sur la surface de l'échantillon. Pour assurer une imagerie et une analyse SEM optimales, l'échantillon doit être prépayé avec le porte-échantillon Q400 fourni « mannequin standard ». Cela permet de réduire ou d'éliminer les effets de charge sur l'échantillon. L'étude de l'interaction entre les surfaces peut être explorée à l'aide de la fixation de la sphère de latex et l'orientation cristalline peut être recueillie à l'aide du goniomètre. En dessous de la surface de l'échantillon, le Q400 peut être utilisé pour explorer la structure locale de la surface en récupérant une plus grande surface en recueillant une série d'images. Ceux-ci peuvent alors être fusionnés et cousus ensemble. Cette capacité de point permet aux chercheurs d'explorer en détail des domaines plus vastes pour l'information structurelle et compositionnelle. La capture d'images SEM couplée à la cartographie EDS peut souvent susciter un certain nombre de questions. Par exemple, la taille moyenne des grains d'un échantillon, la taille et la distribution des constituants microstructuraux ou toute autre analyse morphologique ou compositionnelle. Le Q400 prend en charge de nombreux logiciels qui peuvent répondre à ces questions. Le FEI Quanta 400 est un microscope électronique à balayage polyvalent et fiable doté de nombreuses caractéristiques lui permettant d'être utilisé pour un large éventail d'applications, de l'analyse des matériaux à l'enquête médico-légale. Ses capacités d'imagerie haute résolution, de cartographie EDS, de fixation au goniomètre et d'imagerie de surface le placent devant ses concurrents.
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