Occasion PHILIPS / FEI Quanta 400 #293585905 à vendre en France

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ID: 293585905
Scanning Electron Microscope (SEM) Dispersive X-Ray detector Ultra-thin detector window Backscatter electron detector USB controller: DC-Isolated USB 2.0 Interface HV-VAC Controller: DAC Uni / Bipolar: ± 10 V (8 x 16 bit) ADC for emission (5 x 10 bit) VAC Operating voltages (16) Digital inputs and outputs Security link to vacuum system Control power supply Turn-on of power supply Emergency turn-off of electronics at malfunction Module for deflection coils: (2) Single deflection systems (4) Double deflection systems Magnification: 4 step and 16 bit Scan rotation Scan shift fine Correction of tilt Orthogonality Rotation offset Module with bipolar power supplies: DAC for current/voltage supplies (8 x 16 bit) Beam shift Tilt coils Image shift coils Stigmator coils (8 pole) Filament imaging Stigmator image Power supply: 4 x ±500 mA, 4 x ±10 V Module for objective lens and condenser lenses: Unipolar power supply Objective lens: 2 x 16 bit DAC (coarse, fine), maximum 6.5 A (2) Condenser lenses: 16 bit DAC, maximum 6.5 A Image system: Maximum pixels: 16384 x 16384 Pixel clock: 200 ns D/A Converter for analog input signals (4 x 12 bit) Counter for mapping (12 x 16 bit) Simultaneous acquisition (4) Analogs (12) Digital input signals Image acquisition Windows 2000: Up to 10 (x86, x64) Full screen mode Slow scan Mapping Oversampling for noiseless images: Up to 32000 Line averaging Frame averaging Reduced area scan ROI Scan Qualitative and quantitative with EDS/WDS AVI Function Signal monitor to control image signals Trigger inputs and clock outputs for point Mains synchronization for slow scan Thumbnail bar for acquired images Image processing: Image browser Loading and saving of images file types: TIFF, BMP, JPEG, PNG, GIF Auto save function Creation of image sections Image rotation Image labeling functions SEM Parameters Power supply: Analog power supplies: ±15 V, +5 V, +12 V Switching power supply for high power objective and condenser lenses Module for PMTs: 2 x 0 to 1.5 kV Module for scintillator: 12 kV Grid voltage: 0 V to 400 V.
PHILIPS/FEI Quanta 400, ou Q400 en abrégé, est un microscope électronique à balayage (SEM) conçu pour la caractérisation des matériaux et l'analyse médico-légale. Il dispose d'une source d'émission de champ - une petite source d'électrons localisée au cœur du SEM. Cela permet à l'instrument de collecter des images d'électrons à haute résolution, des cartes et des spectres sur un large éventail de types d'échantillons. Le Q400 est un système à l'état solide et ne nécessite donc pas d'azote liquide pour le refroidissement. Le système dispose d'un grand contrôleur de résolution numérique pour fournir un courant de faisceau précis et précis à l'échantillon. Pour l'imagerie, le Q400 peut fournir des images de contraste élevé avec une résolution allant jusqu'à 0,5nm, permettant de déterminer avec précision la topographie de surface. De plus, ses capacités SEM peuvent être utilisées pour obtenir des informations de cartographie chimique avec EDS (spectroscopie dispersive d'énergie), permettant une cartographie élémentaire rapide sur la surface de l'échantillon. Pour assurer une imagerie et une analyse SEM optimales, l'échantillon doit être prépayé avec le porte-échantillon Q400 fourni « mannequin standard ». Cela permet de réduire ou d'éliminer les effets de charge sur l'échantillon. L'étude de l'interaction entre les surfaces peut être explorée à l'aide de la fixation de la sphère de latex et l'orientation cristalline peut être recueillie à l'aide du goniomètre. En dessous de la surface de l'échantillon, le Q400 peut être utilisé pour explorer la structure locale de la surface en récupérant une plus grande surface en recueillant une série d'images. Ceux-ci peuvent alors être fusionnés et cousus ensemble. Cette capacité de point permet aux chercheurs d'explorer en détail des domaines plus vastes pour l'information structurelle et compositionnelle. La capture d'images SEM couplée à la cartographie EDS peut souvent susciter un certain nombre de questions. Par exemple, la taille moyenne des grains d'un échantillon, la taille et la distribution des constituants microstructuraux ou toute autre analyse morphologique ou compositionnelle. Le Q400 prend en charge de nombreux logiciels qui peuvent répondre à ces questions. Le FEI Quanta 400 est un microscope électronique à balayage polyvalent et fiable doté de nombreuses caractéristiques lui permettant d'être utilisé pour un large éventail d'applications, de l'analyse des matériaux à l'enquête médico-légale. Ses capacités d'imagerie haute résolution, de cartographie EDS, de fixation au goniomètre et d'imagerie de surface le placent devant ses concurrents.
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