Occasion PHILIPS / FEI Quanta 400 #293829906 à vendre en France

ID: 293829906
Scanning Electron Microscope (SEM) Included: OXFORD INSTRUMENTS INCA X-Sight detector OXFORD INSTRUMENTS INCA X-Stream and INCA mics controllers / Electronics Centaurus detector component PFEIFFER Vacuum compact cold cathode gauge.
PHILIPS/FEI Quanta 400 est un microscope électronique à balayage avancé (SEM) conçu pour des applications d'imagerie haute résolution. Il utilise une variété de techniques d'imagerie et d'analyse, y compris l'imagerie électronique rétrodiffusée (ESB), la microanalyse aux rayons X, la détermination de la topographie 3D, la quantification de la taille et de la morphologie des particules et le contraste de tension. Cette combinaison de capacités fournit aux chercheurs un outil puissant pour caractériser les propriétés chimiques, structurelles et électriques des échantillons à l'échelle micro. La plate-forme de base du FEI Quanta 400 est constituée d'un équipement à vide à haute dépression, d'un étage d'échantillonnage, d'une colonne optique électronique, d'un système de manipulation d'échantillons, d'un détecteur numérique et d'une unité de commande informatique. La colonne optique d'électrons abrite un canon à électrons focalisés conçu pour générer un faisceau d'électrons de taille et d'énergie variables qui peuvent être rapidement focalisés et balayés à travers la surface de l'échantillon. Les particules chargées interagissent avec la surface de l'échantillon, provoquant l'émission ou l'absorption d'électrons, fournissant des informations sur la composition et la topographie de l'échantillon. L'étage d'échantillonnage sur PHILIPS Quanta 400 est un modèle à 5 axes conçu pour l'alignement et le positionnement précis de l'échantillon. En utilisant la scène, des images à fort grossissement et à large champ peuvent être acquises en plus de la topographie 3D et de l'imagerie à double faisceau. Il est capable de basculer des échantillons par rapport au flux d'électrons, permettant un contrôle d'imagerie très précis. Le détecteur numérique installé sur Quanta 400 est un détecteur de courant d'obscurité de haute résolution optimisé pour une imagerie et une analyse rapides. Il est capable d'accepter des signaux électroniques de deux détecteurs au maximum, permettant l'imagerie parallèle et l'analyse multicanal. Le matériel permet également des capacités avancées de traitement d'image, y compris l'amélioration d'image multi-échelle, la déconvolution, et le seuil. La machine de contrôle informatique permet un contrôle automatisé et précis des échantillons. L'interface logicielle simplifie les interactions de l'utilisateur avec l'instrument, rendant le processus d'ajustement des paramètres plus facile et plus efficace. De plus, l'outil de contrôle peut être configuré pour effectuer des tâches telles que la tomographie automatisée, le dimensionnement des particules et l'imagerie à fort grossissement. PHILIPS/FEI Quanta 400 offre aux utilisateurs une plate-forme SEM multimode puissante capable de diverses techniques d'imagerie et d'analyse. Avec sa combinaison d'électro-aimants avancés, la manipulation précise des échantillons et l'imagerie numérique, FEI Quanta 400 se distingue parmi les meilleurs microscopes électroniques à balayage pour des applications de recherche.
Il n'y a pas encore de critiques