Occasion PHILIPS / FEI Quanta 450 FEG #293747589 à vendre en France
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ID: 293747589
Scanning Electron Microscope (SEM)
PFEIFFER Compact cold cathode gauge
Electron beam resolution:
High vacuum:
1.2 nm at 30 kV (SED)
2.9 nm at 1 kV (SED)
Low vacuum:
1.5 nm at 30 kV (SED)
3.1 nm at 3 kV (SED)
Extended low-vacuum mode
1.4 nm at 30 kV (SED)
Detectors:
Everhart-Thornley SED
Low vacuum SED
Gaseous SE (used in ESEM mode)
IR-CCD
Chambers:
High-vacuum: < 6*10-4 Pa
Low-vacuum: 10 to 130 Pa
ESEM-vacuum: 10 to 4000 Pa
X-Y-Z-Tilt-rotate motorized stage:
X = Y = 100 mm
Z = 60 mm
T= +70° to -5°
System control:
Graphical User Interface (GUI)
Resolution: 1280 x 1024
Keyboard
Optical mouse
Operating system: Windows XP
LCD Display, 19"
DVD / RW
(2) PC.
PHILIPS/FEI Quanta 450 FEG Scanning Electron Microscope (SEM) est un instrument de pointe pour étudier les caractéristiques des nanomatériaux dans les matériaux biologiques, industriels et autres. Sa source « Field Emission Gun » (FEG) fournit une résolution ultime de 0,7 angstroms et un haut niveau de luminosité et de stabilité. Le microscope est capable d'imiter les caractères magnétiques, électriques, optiques et mécaniques d'un échantillon. FEI Quanta 450 FEG SEM a plusieurs caractéristiques notables. Les grands détecteurs du Quanta 450 permettent une imagerie ultra haute résolution avec des niveaux de bruit incroyablement bas. Son ébauche de faisceau contrôlée par l'utilisateur et son électronique de détection divergente offrent un contraste et une flexibilité améliorés. Le mode « Smart SEM » de Quanta 450 rend le microscope convivial en optimisant automatiquement les paramètres en fonction de l'échantillon et des conditions. Le Quanta 450 est caractérisé par plusieurs modes d'imagerie. Il s'agit notamment de l'imagerie sous vide, sous vide et dans l'environnement. Il comprend également plusieurs filtres d'imagerie tels que le filtrage différentiel de contraste de phase, et le contraste d'inclinaison avec déphasage. Ceux-ci permettent d'observer des caractéristiques ultrafines dans des échantillons. Le Quanta 450 comprend également un détecteur d'électrons rétrodiffuseur qui permet l'imagerie de caractéristiques en haute profondeur de champ, tandis que son détecteur d'électrons secondaire augmente la résolution de contraste. Le filtre d'image sans filtre automatise le processus d'imagerie, tandis que son étage motorisé facilite la navigation sur de grands échantillons. Le Quanta 450 est équipé d'un système à basse dépression qui minimise les dommages thermiques tout en préservant l'intégrité des échantillons. Le Quanta 450 est capable d'imiter des échantillons organiques à température ambiante. En conclusion, PHILIPS Quanta 450 FEG Scanning Electron Microscope est un instrument de pointe conçu pour l'imagerie nano-échelle. Il dispose d'une source FEG (Field Emission Gun) pour l'imagerie ultra haute résolution, ainsi que de plusieurs modes d'imagerie, filtres et détecteurs. L'étage motorisé de la Quanta 450 facilite également la navigation sur les échantillons, tandis que son système à basse dépression assure l'intégrité des échantillons et de faibles dommages thermiques.
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