Occasion PHILIPS / FEI Quanta 450 #9200223 à vendre en France
Il semble que cet article a déjà été vendu. Consultez les produits similaires ci-dessous ou contactez-nous et notre équipe expérimentée le trouvera pour vous.
Appuyez sur pour zoomer
Vendu
ID: 9200223
Style Vintage: 2012
Scanning Electron Microscope (SEM)
Nano characterization:
Metals and alloys
Oxidation / Corrosion
Fractures
Welds
Polished
Sections
Magnetic
Superconducting materials
Ceramics
Composites
Plastics
Film / Coatings
Geological sections
Minerals
Nanoprocesses:
Hydration / Dehydration
Wetting behaviour / Contact angle analysis
Oxidation / Corrosion
Tensile (Heat / Cooling)
Crystallization / Phase transformation
Soft materials:
Polymers
Pharmaceuticals
Filters
Gels
Tissues
Plant material
Particles
Porous materials
Fibers
Nano prototyping:
Lithography
EBID
Essential specifications:
Electron optics:
High performance thermal emission SEM
Fixed objective aperture
Objective lens geometry: 45°C
Maximum horizontal field width: 6.5 mm
Distance (10 mm): 24.3 mm (65 mm)
Accelerating voltage: 200 V - 30 kV
Probe current: Up to 2 µA
Magnification: 6 -1000000 x
Electron beam resolution:
High vacuum:
3.0 nm - 30 kV (SE)
4.0 nm - 30 kV (BSE)
8.0 nm - 3 kV (SE)
Extended vacuum mode (ESEM):
3.0nm - 30 kV (SE)
Detectors:
Everhart thornley SED (secondary electron detector)
Large field low vacuum SED (LFD)
High sensitivity low kV (SS-BSED)
Gaseous SED (GSED) (used in ESEM mode)
4-Quadrant solid-state (BSED)
Scintillator (BSED / CLD)
IR Camera for viewing sample in chamber
Vacuum system: 1 x 250 l/s TMP (Turbomolecular pump)
Beam gas path length: 10 mm / 2 mm
Chamber vacuum:
High: < 6e - 4 Pa
Low: < 10 - 130 Pa
ESEM: < 10 - 2600 Pa
Evacuation time:
High vacuum: ≤ 150 s
ESEM (FEI Standard test procedures): ≤ 270 s
Chamber:
Size: Left to right 284 mm
Analytical WD: 10 mm
(8) Ports
EDS take-off angle: 35°C
Stage:
X-Y: 100 mm
Z: 60 mm
Z clearance: 75 mm
T: - 5° - 70°
R: 360°
Repeatability: 2 µm (x - y)
Sample holders:
Multi-stub
Single stub mount
Various wafer and custom
Universal sample
System control:
32-Bit graphical user interface: Windows XP
Keyboard and optical mouse
LCD Display, 19"
SVGA 1280 x 1024
Joystick
Manual user
Image processor:
4096 x 3536 Pixels (~14 MP)
File type:
TIFF (8 / 16 bit)
BMP / JPEG
System options:
Manual user interface
Support PC (Monitor, 19")
2012 vintage.
PHILIPS/FEI Quanta 450 est un microscope électronique à balayage (SEM) conçu pour des applications d'imagerie et d'analyse à haute sensibilité. Ses images haute résolution le rendent idéal pour inspecter des microstructures dans des échantillons de dimensions nanométriques. Le microscope comprend un canon à électrons monochrome haute tension, une suite complète d'imagerie à tension variable et de détecteurs d'électrons secondaires (SE), un logiciel de détection puissant et des capacités de traitement d'images numériques. Le FEI Quanta 450 est un puissant SEM haute performance, adapté à un large éventail d'applications telles que l'analyse de défaillance des semi-conducteurs, l'analyse de la structure des matériaux et les essais de matériaux non destructifs. Le système est capable de résolutions jusqu'à 1,1 nm, permettant une imagerie de haute précision des structures nanométriques. Le microscope contient un canon à électrons monochromés Zeiss ECU-D1. Cette source d'électrons à émission de champ a une taille de tache de 1 nm, une grande stabilité et reproductibilité et une faible émission thermique. La source est montée sur un mécanisme de mouvement manuel X-Y, ce qui permet de la placer avec précision sur l'échantillon, ce qui entraîne une faible dérive et une grande précision. PHILIPS Quanta 450 comprend une suite complète de détecteurs SE, y compris un détecteur d'électrons secondaire (SED) et un détecteur d'électrons rétrodiffuseurs (BSD). Les détecteurs sont montés sur un mécanisme de mouvement manuel Y-Z, permettant leur positionnement précis autour de l'échantillon. Ceci permet une identification élémentaire précise de la structure avec de petits volumes. Le logiciel installé avec le microscope le rend facile à utiliser. Il comprend l'imagerie bidimensionnelle, la reconstruction tridimensionnelle (3D), le positionnement des échantillons et la spectroscopie à rayons X dispersive d'énergie (EDS). La partie imagerie du logiciel est flexible et conviviale, permettant un large éventail de paramètres d'image et d'améliorations. Les capacités de traitement numérique de l'image du microscope sont robustes, offrant à l'utilisateur une gamme de fonctionnalités telles que la segmentation avancée de l'image, l'analyse quantitative de l'image et l'analyse histogramme. Cette imagerie est essentielle pour des applications sophistiquées dans l'analyse des échecs. Dans l'ensemble, Quanta 450 est un microscope électronique à balayage avancé conçu pour l'imagerie haute résolution et l'analyse de structures nanométriques. Le canon à électrons monochromé avec sa taille de 1 nm, sa gamme complète de détecteurs SE, son logiciel et son système de traitement d'image numérique le rendent idéal pour inspecter des microstructures dans des échantillons de semi-conducteurs, de matériaux et de dispositifs.
Il n'y a pas encore de critiques