Occasion PHILIPS / FEI Quanta 450 #9200223 à vendre en France

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ID: 9200223
Style Vintage: 2012
Scanning Electron Microscope (SEM) Nano characterization: Metals and alloys Oxidation / Corrosion Fractures Welds Polished Sections Magnetic Superconducting materials Ceramics Composites Plastics Film / Coatings Geological sections Minerals Nanoprocesses: Hydration / Dehydration Wetting behaviour / Contact angle analysis Oxidation / Corrosion Tensile (Heat / Cooling) Crystallization / Phase transformation Soft materials: Polymers Pharmaceuticals Filters Gels Tissues Plant material Particles Porous materials Fibers Nano prototyping: Lithography EBID Essential specifications: Electron optics: High performance thermal emission SEM Fixed objective aperture Objective lens geometry: 45°C Maximum horizontal field width: 6.5 mm Distance (10 mm): 24.3 mm (65 mm) Accelerating voltage: 200 V - 30 kV Probe current: Up to 2 µA Magnification: 6 -1000000 x Electron beam resolution: High vacuum: 3.0 nm - 30 kV (SE) 4.0 nm - 30 kV (BSE) 8.0 nm - 3 kV (SE) Extended vacuum mode (ESEM): 3.0nm - 30 kV (SE) Detectors: Everhart thornley SED (secondary electron detector) Large field low vacuum SED (LFD) High sensitivity low kV (SS-BSED) Gaseous SED (GSED) (used in ESEM mode) 4-Quadrant solid-state (BSED) Scintillator (BSED / CLD) IR Camera for viewing sample in chamber Vacuum system: 1 x 250 l/s TMP (Turbomolecular pump) Beam gas path length: 10 mm / 2 mm Chamber vacuum: High: < 6e - 4 Pa Low: < 10 - 130 Pa ESEM: < 10 - 2600 Pa Evacuation time: High vacuum: ≤ 150 s ESEM (FEI Standard test procedures): ≤ 270 s Chamber: Size: Left to right 284 mm Analytical WD: 10 mm (8) Ports EDS take-off angle: 35°C Stage: X-Y: 100 mm Z: 60 mm Z clearance: 75 mm T: - 5° - 70° R: 360° Repeatability: 2 µm (x - y) Sample holders: Multi-stub Single stub mount Various wafer and custom Universal sample System control: 32-Bit graphical user interface: Windows XP Keyboard and optical mouse LCD Display, 19" SVGA 1280 x 1024 Joystick Manual user Image processor: 4096 x 3536 Pixels (~14 MP) File type: TIFF (8 / 16 bit) BMP / JPEG System options: Manual user interface Support PC (Monitor, 19") 2012 vintage.
PHILIPS/FEI Quanta 450 est un microscope électronique à balayage (SEM) conçu pour des applications d'imagerie et d'analyse à haute sensibilité. Ses images haute résolution le rendent idéal pour inspecter des microstructures dans des échantillons de dimensions nanométriques. Le microscope comprend un canon à électrons monochrome haute tension, une suite complète d'imagerie à tension variable et de détecteurs d'électrons secondaires (SE), un logiciel de détection puissant et des capacités de traitement d'images numériques. Le FEI Quanta 450 est un puissant SEM haute performance, adapté à un large éventail d'applications telles que l'analyse de défaillance des semi-conducteurs, l'analyse de la structure des matériaux et les essais de matériaux non destructifs. Le système est capable de résolutions jusqu'à 1,1 nm, permettant une imagerie de haute précision des structures nanométriques. Le microscope contient un canon à électrons monochromés Zeiss ECU-D1. Cette source d'électrons à émission de champ a une taille de tache de 1 nm, une grande stabilité et reproductibilité et une faible émission thermique. La source est montée sur un mécanisme de mouvement manuel X-Y, ce qui permet de la placer avec précision sur l'échantillon, ce qui entraîne une faible dérive et une grande précision. PHILIPS Quanta 450 comprend une suite complète de détecteurs SE, y compris un détecteur d'électrons secondaire (SED) et un détecteur d'électrons rétrodiffuseurs (BSD). Les détecteurs sont montés sur un mécanisme de mouvement manuel Y-Z, permettant leur positionnement précis autour de l'échantillon. Ceci permet une identification élémentaire précise de la structure avec de petits volumes. Le logiciel installé avec le microscope le rend facile à utiliser. Il comprend l'imagerie bidimensionnelle, la reconstruction tridimensionnelle (3D), le positionnement des échantillons et la spectroscopie à rayons X dispersive d'énergie (EDS). La partie imagerie du logiciel est flexible et conviviale, permettant un large éventail de paramètres d'image et d'améliorations. Les capacités de traitement numérique de l'image du microscope sont robustes, offrant à l'utilisateur une gamme de fonctionnalités telles que la segmentation avancée de l'image, l'analyse quantitative de l'image et l'analyse histogramme. Cette imagerie est essentielle pour des applications sophistiquées dans l'analyse des échecs. Dans l'ensemble, Quanta 450 est un microscope électronique à balayage avancé conçu pour l'imagerie haute résolution et l'analyse de structures nanométriques. Le canon à électrons monochromé avec sa taille de 1 nm, sa gamme complète de détecteurs SE, son logiciel et son système de traitement d'image numérique le rendent idéal pour inspecter des microstructures dans des échantillons de semi-conducteurs, de matériaux et de dispositifs.
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