Occasion PHILIPS / FEI Sirion 200 #9267884 à vendre en France

PHILIPS/FEI Sirion 200 est un microscope électronique à balayage très avancé (SEM) utilisé pour observer et analyser les caractéristiques structurelles des spécimens. Sa conception flexible et conviviale permet de nombreuses applications, telles que l'imagerie en coupe transversale, l'analyse des nanomatériaux et la microscopie électronique à balayage (SEM) pour déterminer la qualité d'un large éventail de matériaux. Ce SEM est équipé d'un pistolet à incandescence en tungstène et d'un type de détecteur d'électrons, donnant une excellente luminosité, contraste et résolution. La fonctionnalité avancée du pistolet permet une imagerie de haute qualité des particules à l'échelle nanométrique, ainsi que des nanostructures. Cela permet aux chercheurs d'évaluer avec précision la texture, la composition et d'autres caractéristiques des échantillons qu'ils étudient. Ce SEM est également capable de collecter des échantillons petits et grands, grâce à son système de changement d'échantillon très avancé. Cela permet aux chercheurs d'analyser rapidement et avec précision un large éventail de spécimens présentant des caractéristiques matérielles variables. FEI Sirion 200 est également équipé d'un module informatisé d'analyse d'image, marquant une amélioration spectaculaire des capacités de piquage d'image et d'analyse d'image. Ce module est capable de déterminer avec précision la composition élémentaire des échantillons, aidant ainsi à l'évaluation de la structure et de la composition des échantillons. PHILIPS Sirion 200 dispose également de capacités de tests environnementaux et électriques extrêmement performantes, permettant aux chercheurs d'analyser rapidement leurs échantillons pour déceler tout défaut ou anomalie. Sirion 200 a également la capacité de fonctionner dans un environnement à vide élevé, ce qui est important pour certains processus d'imagerie et d'analyse délicats. Ce scanner est également équipé d'une variété d'autres fonctionnalités, telles que l'imagerie SEM à double faisceau, l'imagerie SEM à faisceau directionnel, le zoom numérique, l'analyse d'images 3D et l'acquisition et le stockage de données. L'instrument a la possibilité de stocker des fonctions, permettant ainsi aux utilisateurs de se rappeler facilement des travaux qui ont été stockés. Dans l'ensemble, PHILIPS/FEI Sirion 200 est un SEM extrêmement puissant et polyvalent qui est très capable de fournir des images détaillées et l'analyse d'une variété de spécimens. Ses fonctionnalités conviviales et avancées en font un excellent choix pour les chercheurs et les scientifiques qui ont besoin d'analyser rapidement et avec précision leurs spécimens.