Occasion PHILIPS / FEI Sirion 400 #293830599 à vendre en France
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ID: 293830599
Taille de la plaquette: 4"
Scanning Electron Microscope (SEM), 4"
E-Beam lithography
Resolution: 2 nm
Tilt: 60°
NPGS System.
PHILIPS/FEI Sirion 400 est un microscope électronique à balayage à haute résolution (SEM) capable de produire les images à plus haute résolution actuellement disponibles sur le marché. Le FEI Sirion 400 est équipé d'une source d'électrons à émission de champ (FEG) Schottky qui fournit une puissance exceptionnelle pour un excellent contraste d'image. Ce système est capable de produire des détails aussi petits que 2 nanomètres. Cela signifie que les scientifiques et les chercheurs peuvent observer et étudier les plus petits détails disponibles. PHILIPS Sirion 400 est également incroyablement précis, ce qui permet aux utilisateurs de mesurer avec précision les particules et les surfaces qui ne peuvent être vues à l'œil nu. Avec sa distance de travail variable, on peut voir des échantillons de 0,1 nanomètres à 20 centimètres. Le détecteur électronique de Sirion 400 est très sensible, ce qui le rend idéal pour des projets de recherche délicats tels que l'analyse biologique de spécimens. Avec le détecteur à double faisceau (DMD) qui peut être intégré dans le système, un utilisateur peut recueillir des images à basse et haute résolution de l'échantillon. La grande chambre PHILIPS/FEI Sirion 400 est conçue pour accueillir de plus grands échantillons tels que des roches, des sols, des sédiments et des fibres. Ses vitesses de balayage rapides combinées à l'objectif de focalisation automatique permettent l'imagerie haute vitesse, et avec ses utilisateurs de logiciels embarqués peuvent rapidement et précisément déterminer l'emplacement exact du matériau scanné. Un changeur à échantillons multiples peut maintenant être installé pour réduire les temps de configuration et de fonctionnement. Les utilisateurs peuvent visualiser l'échantillon dans une vue conventionnelle ou dans une vue spécialisée à 360 degrés pour une analyse plus précise. Le système avancé d'alignement laser garantit que chaque balayage est parfaitement adapté à la précédente, ce qui minimise toute erreur lors de la couture d'images ensemble. FEI Sirion 400 est un microscope électronique à balayage puissant et précis qui est parfait pour les chercheurs et les scientifiques qui cherchent à voir et à analyser les objets les plus minuscules. Grâce à sa caméra haute résolution, à ses capacités de détection multiple et à sa vitesse de balayage avancée, cet instrument permettra aux chercheurs de capturer des images et des mesures détaillées de leur matériel d'échantillonnage.
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