Occasion PHILIPS / FEI Sirion #293792341 à vendre en France

ID: 293792341
Scanning Electron Microscope (SEM), parts system Model no: PW 2046/31 AMETEK PV7761/65 ME IGPU IGPL (3) 4022 262 1720 4022 268 00412 Module 4022 261 49401 S Column FEG 4022 261 3756 (2) 20089-K 9432 034 00201 22609-M MDC 997284-2000 GIP-25-0 4035-272-26092-A 4022-298-00793 4022-293-47911 1027639 6-Channel BSD Amplifier 4022-261-45692 GIS Rack 60TE EDWARDS APG-MP-NW16 ST/ST EDWARDS AIM-SI1-NW25 EDWARDS IPV25PKA EDWARDS APG/MP/NW16 ST/ST Card cabinet: 4022-262-53941 4022-261-43891 4022-192-93661 Tall cabinet: GAGNE 1012 Optics rack with cards: (2) SCDR3 OPMS MDLN/I DLCB/SN (2) QDCR/SN OPSS 4022-192-92842 with cards: DLCB/SN OPMR QDCR/SN.
PHILIPS/FEI Sirion est un microscope électronique à balayage haut de gamme (SEM) qui offre une capacité d'imagerie inégalée. FEI Sirion est un SEM polyvalent et facile à utiliser qui peut être utilisé pour une variété de matériaux et d'applications. Avec sa haute résolution, sa grande profondeur de champ et sa longue distance de travail, PHILIPS Sirion offre des performances d'imagerie supérieures. Sirion dispose d'un grand champ de vision et peut représenter des spécimens jusqu'à 8,5 "en haute résolution. Le SEM haut de gamme offre une résolution améliorée de 0,5nm et une distance de travail maximale de 21mm. Cela permet aux utilisateurs de capturer des images croustillantes de petites caractéristiques et structures. La conception avancée de PHILIPS/FEI Sirion comprend également une gamme de porte-échantillons et d'étages pour accueillir un large éventail d'échantillons. En utilisant différentes étapes, les utilisateurs peuvent analyser une variété d'échantillons avec facilité. FEI Sirion est également compatible avec divers logiciels d'imagerie et d'analyse, permettant aux utilisateurs d'accéder à des capacités d'imagerie haut de gamme. PHILIPS Sirion est alimenté par un module entrelacé haute tension, avec une gamme de 20kV à 30kV. Cela permet aux utilisateurs d'optimiser les performances d'imagerie et la résolution tout en assurant la sécurité des échantillons. Le module haute tension d'entrelacement améliore également le contraste des images générées. La configuration de Sirion comprend également un ordinateur intégré et un moniteur, qui permet aux utilisateurs de contrôler le microscope et de visualiser les images avec facilité. Le système est également équipé d'un système d'éclairage à diode électroluminescente (LED) qui permet aux utilisateurs d'imiter des échantillons dans la gamme de lumière visible. Dans l'ensemble, PHILIPS/FEI Sirion est un SEM haut de gamme et offre d'excellentes capacités d'imagerie pour une variété de matériaux et d'applications. Grâce à ses conceptions efficaces, ses longues distances de travail et son éventail de porte-échantillons, les utilisateurs peuvent analyser et interpréter les échantillons avec précision avec facilité. FEI Sirion est une excellente solution pour ceux qui ont besoin d'un microscope électronique à balayage puissant et convivial.
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