Occasion PHILIPS / FEI Sirion #9236011 à vendre en France

PHILIPS/FEI Sirion est un microscope électronique à balayage avancé (SEM) conçu pour des applications de recherche et d'imagerie haut de gamme. Il fournit une gamme de caractéristiques avancées pour l'imagerie tridimensionnelle détaillée et la caractérisation des objets micro- et nanométriques. FEI Sirion combine toutes les caractéristiques de SEM de pointe avec un design robuste pour la performance ultime et la stabilité. PHILIPS Sirion est capable d'imagerie et d'analyse ultra-résolution et permet une caractérisation détaillée des structures micro et nanométriques. Il offre une large gamme de modes d'imagerie, tels que l'imagerie descendante, inclinée, centrée, inclinée et rétrodiffusée. Il peut être équipé d'une grande variété de détecteurs, y compris la spectroscopie à rayons X dispersive d'énergie à haute sensibilité (EDX), les détecteurs d'électrons secondaires (SE) et les détecteurs d'électrons rétrodiffusés (ESB). Sirion dispose d'un nouveau système de traitement de signal numérique pour l'acquisition d'images haute puissance et haute résolution. Il est également équipé d'un système d'injection de gaz à pression variable pour réduire la contamination lors de l'imagerie et fournir un environnement à basse dépression pour minimiser les dommages aux échantillons. PHILIPS/FEI Sirion dispose également d'un système de contrôle d'écran tactile breveté et convivial pour un fonctionnement pratique. FEI Sirion offre une gamme de fonctions d'échantillonnage automatisées pour faciliter le chargement et l'alignement des échantillons. Il est en outre équipé d'un étage d'échantillonnage « métrologique » avec un axe z motorisé pour un positionnement ultra précis des échantillons. L'étage est également équipé de trois axes x-y manuels pour la manipulation et l'alignement de l'échantillon complet. PHILIPS Sirion dispose également d'une suite d'analyses avancées qui permet une analyse détaillée de la composition élémentaire, comme les propriétés chimiques et physiques. Il comprend une bibliothèque de cartes de phases cristallographiques présélectionnées ainsi qu'une suite analytique intégrée pour le traitement d'images par transformée de Fourier. Dans l'ensemble, Sirion est un SEM avancé et performant idéal pour une gamme diversifiée d'applications de recherche et d'imagerie. Il offre les derniers en matière de conception et d'ingénierie, avec des performances et une stabilité de pointe dans l'industrie. Sa conception robuste en fait un outil précieux pour l'imagerie détaillée et l'analyse des objets à l'échelle micro et nanométrique.