Occasion PHILIPS / FEI Tecnai 20 S-Twin #293639792 à vendre en France

PHILIPS/FEI Tecnai 20 S-Twin est un microscope électronique à balayage qui fournit des capacités d'imagerie haute résolution adaptées à la recherche et aux applications industrielles. FEI Tecnai 20 S-Twin est un instrument à double faisceau permettant aux utilisateurs d'effectuer à la fois l'imagerie et l'analyse sur les mêmes échantillons, avec le faisceau de balayage capable de produire des images haute résolution et le faisceau d'analyse optimisé pour les techniques d'analyse telles que la diffraction par rétrodiffusion électronique (EBSD). Avec PHILIPS Tecnai 20 S-Twin, les utilisateurs peuvent profiter d'une variété de modes d'imagerie, y compris la haute résolution et le vide faible (< 4x10-3 Pa). Tecnai 20 S-Twin a une variété de paramètres réglables permettant l'imagerie haute résolution des échantillons. Ceux-ci comprennent un taux d'échantillonnage de pixels de 1nm et un grossissement de travail maximal de 400kX. En outre, plusieurs filtres peuvent être appliqués, y compris des filtres spectraux, de phase et à large bande. De plus, le PHILIPS/FEI Tecnai 20 S-Twin est équipé d'un certain nombre de fonctions de contrôle de faisceau, telles que la commande de déviation, la commande de position et le stabaliseur de déviation. Cet équipement permet également à l'utilisateur de générer des images tridimensionnelles à l'aide de la tomographie électronique. Pour la manipulation des échantillons, le FEI Tecnai 20 S-Twin dispose d'un système d'alimentation motorisé à 6 axes ainsi que d'un contrôle d'inclinaison et de déclinaison. De plus, des fonctionnalités telles que le marquage automatique de position et la visualisation interactive de l'échantillon sont disponibles. PHILIPS Tecnai 20 S-Twin est également équipé d'algorithmes avancés d'analyse AI pour l'analyse des résultats. En plus de ses capacités d'imagerie, Tecnai 20 S-Twin dispose également d'une variété d'options de préparation d'échantillons. Cela comprend plusieurs porte-échantillons et une sélection et un chargement automatisés de l'échantillon afin de réduire les dommages potentiels. En outre, une gamme de techniques de préparation d'échantillons, telles que le séchage à point critique, le nettoyage chimique ou le broyage d'ions, sont également disponibles. Dans l'ensemble, PHILIPS/FEI Tecnai 20 S-Twin est un puissant microscope électronique à balayage adapté à une gamme de recherches et d'applications industrielles. Avec ses paramètres réglables et ses fonctions de manipulation d'échantillons, cet instrument permet l'imagerie détaillée et l'analyse de divers matériaux avec un haut niveau de précision.