Occasion PHILIPS / FEI Tecnai 20 S-Twin #293812127 à vendre en France

PHILIPS/FEI Tecnai 20 S-Twin est un microscope électronique à balayage (SEM) avec la capacité unique de fournir des capacités d'imagerie au sous-nanomètre et au macro-niveau. Ce microscope est équipé à la fois d'un objectif de gravité thermique dans la lentille et d'un détecteur d'électrons à balayage environnemental à haute résolution. L'objectif de gravité thermique à l'intérieur de la lentille fournit une excellente résolution dans le champ de vision proche ou intermédiaire, tandis que le détecteur d'électrons à balayage environnemental permet d'observer les nano-structures et la morphologie de surface. Cette technologie de pointe permet aux utilisateurs d'observer une multitude de caractéristiques morphologiques dans les matières biologiques et inorganiques. Le SEM offre une gamme de capacités d'investigation de spécimens qui comprennent l'imagerie en champ lumineux et sombre, le mode de pression variable, la cathodoluminescence et les détecteurs d'électrons rétrodiffusés. Il dispose également d'une fonction d'accès automatique à double inclinaison qui permet aux utilisateurs de corriger dynamiquement les désalignements dans le plan de visualisation. Cette fonctionnalité avancée est particulièrement utile lors de l'imagerie de matériaux incurvés ou irréguliers. FEI Tecnai 20 S-Twin est compatible avec les mandrins double face et les derniers porte-échantillons, tels que les substrats et les mannequins. Cette flexibilité vous permet d'effectuer une grande variété de techniques d'examen avec divers types d'échantillons. PHILIPS Tecnai 20 S-Twin dispose également de fonctionnalités logicielles puissantes, telles que l'analyse d'image et la reconnaissance automatique des motifs. Ses outils avancés de traitement d'image, et la capacité de stocker et de suivre les données d'image, vous permettent de manipuler et d'analyser l'information d'imagerie rapidement. Son logiciel est également capable de configurer les paramètres du microscope, vous permettant de maximiser ses capacités d'imagerie. Tecnai 20 S-Twin est un outil idéal pour la recherche microscopique nécessitant à la fois des images haute résolution et une gamme d'outils d'analyse. Ses performances et sa flexibilité supérieures le rendent adapté à diverses applications, y compris la métrologie de surface, la nano-fabrication et l'analyse des défauts des semi-conducteurs. Ce microscope de pointe est en mesure de fournir aux utilisateurs les capacités d'imagerie de haute qualité dont ils ont besoin pour obtenir des résultats fiables rapidement et avec précision.