Occasion PHILIPS / FEI Tecnai F20 #9375418 à vendre en France

PHILIPS/FEI Tecnai F20 Scanning Electron Microscope (SEM) est un instrument scientifique haut de gamme qui permet aux chercheurs d'obtenir des images à haute résolution d'échantillons dans divers environnements. Le F20 est équipé d'un équipement avancé de suivi à 5 axes qui permet un mouvement précis et précis de l'échantillon, permettant des capacités d'imagerie haute résolution. En outre, l'instrument est équipé d'un détecteur SFEG Gatan haute performance, qui fournit un excellent contraste et une résolution sur une large gamme de grossissements. Le F20 est conçu avec un étage d'échantillons polyvalent, à double inclinaison et à 10 positions pour permettre la plus grande flexibilité dans l'imagerie des échantillons. L'étage d'échantillonnage est conçu pour supporter des échantillons jusqu'à 100 mm de diamètre et 3 kg de poids. Le système de suivi à 5 axes assure que l'étage de l'échantillon est complètement aligné avec l'échantillon pour une imagerie précise et précise. Le F20 peut fonctionner à une tension d'anode maximale de 20 kV, offrant un excellent contraste et une excellente résolution. Le F20 est équipé d'une source d'électrons à émission de champ (FEG), qui offre une résolution accrue et une plus grande stabilité. La source d'électrons permet la production d'images au niveau quasi atomique, tandis qu'une gamme d'options de détecteurs permettent aux chercheurs de choisir entre champ lumineux, champ sombre et imagerie de matériaux à différentes épaisseurs et compositions chimiques. Le F20 offre également une gamme de capacités d'imagerie numérique, y compris l'imagerie monochrome, le zoom optique et l'imagerie couleur. L'unité supporte également une gamme de techniques d'imagerie, telles que l'imagerie électronique rétrodiffusée et l'imagerie filtrée par l'énergie, qui peuvent aider les chercheurs à mieux comprendre les structures complexes. Pour assurer un fonctionnement facile et sûr, le F20 dispose d'un capot insonorisant et d'une table de levage, ainsi que d'une gamme de dispositifs de sécurité tels qu'un interrupteur de sécurité automatisé et un échappement de sécurité pour la manutention des gaz. En outre, la machine est équipée d'un panneau de commande pratique qui permet un fonctionnement rapide et efficace. Le microscope électronique à balayage FEI Tecnai F20 est un instrument avancé et haut de gamme conçu pour fournir aux chercheurs des images à haute résolution de matériaux à résolution quasi atomique. Avec sa conception polyvalente, son large éventail de capacités d'imagerie et ses caractéristiques de sécurité, le F20 est un instrument idéal pour diverses applications de recherche.