Occasion PHILIPS / FEI Tecnai F30 #9195579 à vendre en France
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Vendu
ID: 9195579
Transmission Electron Microscope (TEM)
Field Emission Gun (FEG)
High voltage: 300 kV
Super twin lens
Emitter: Schottky
HRTEM (Spatial resolution: 0.18 nm)
STEM (Spatial resolution: 0.20 nm)
Convergent Beam Diffraction (CBM)
Single tilt specimen holder
Normal double tilt holder
Low background double tilt holder
Nanoindenter / STM Holder
Camera / Detectors:
High energy resolution X-ray SDD detector
CCD GATAN US4000 Ultrascan
Pixels: 4K x 4K
14-Bits
EFTEM GATAN GIF:
Energy resolution: 1.2 eV
EDX EDAX:
Collection angle: 0.1 srad
Energy resolution: 136 eV
HT-Tank 300kV FEG-EMC.
Le microscope électronique à balayage PHILIPS/FEI Tecnai F30 est un puissant outil de microanalyse pour les chercheurs de diverses disciplines. Ce microscope dispose d'un système optique électronique avancé qui combine un certain nombre d'innovations pour fournir les plus hautes performances en imagerie et caractérisation. Au cœur du système se trouve un canon à électrons à émission de champ qui produit un faisceau à faible énergie et fortement focalisé. Cela permet la résolution latérale la plus élevée possible, une profondeur de champ exceptionnelle et un excellent contraste ligne-paire. La conception de la colonne vise à minimiser l'aberration chromatique et sphérique, avec une grande profondeur de focalisation et une fonction de transfert de contraste supérieure (FCT). En outre, le microscope dispose d'un détecteur InLens avancé. Ce détecteur capture les électrons sans qu'il soit nécessaire de les recentrer et fournit un niveau supplémentaire de sensibilité et de précision. Cela en fait un choix idéal pour l'imagerie à fort grossissement et l'analyse de grandes surfaces. FEI F30 est également équipé d'un détecteur semi-conducteur nouvellement conçu qui permet une imagerie très polyvalente. Ce détecteur est capable de capturer des électrons de faible énergie tout en conservant la capacité de distinguer différents éléments au sein d'un échantillon. C'est un excellent choix pour analyser des films minces, en raison de ses capacités d'imagerie à grande vitesse. En outre, le microscope peut être utilisé avec une variété de détecteurs, tels que des détecteurs de rayons X, des détecteurs de rétrodiffusion d'électrons et des détecteurs annulaires de champ sombre à angle élevé, pour étendre encore ses capacités. Ces techniques sont utiles pour diverses tâches telles que l'analyse élémentaire à haute résolution et les reconstructions de surface. PHILIPS TECNAI F 30 dispose également d'une haute tension d'accélération et d'une longue distance de travail. Cette combinaison fait du microscope un excellent choix pour l'imagerie avec une profondeur de champ plus élevée, permettant une plus grande clarté de l'échantillon. F30 est donc un excellent choix pour une variété d'applications d'analyse et d'imagerie.
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