Occasion PHILIPS / FEI Tecnai F30 #9277568 à vendre en France

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PHILIPS / FEI Tecnai F30
Vendu
ID: 9277568
System Gun FEG Accelerator Outer vessel 300 kV TEM System: Compustage TEM Rack STEM Rack HT Tank HT Cable Water rack Hand panel L, USB Hand panel R, USB, trackball TMP Controller ODP System Dual monitor Low back ground double tilt holder Loading tool EDWARD RV3 Vacuum pump Detector: GATAN 894 CCD Camera Water flow meter Water tube HAADF Stem detector Personal Computer (PC): Super micro TEM PC PCI6110 For STEM 5 Ports LAN card Dual monitor card Key board Mouse Utilities: Main chiller Air compressor No objective lens chiller No service tool box No bake out tool No EDS.
Le microscope électronique à balayage PhillipsPHILIPS/FEI Tecnai F30 (SEM) est un instrument unique et puissant pour l'analyse des matériaux. Il est conçu pour fournir de superbes images topographiques de surface, une analyse élémentaire de composition à haute résolution et un balayage rapide et fiable des échantillons. Ce microscope polyvalent fournit des images sous-nanométriques de résolution qui peuvent être observées en temps réel à l'aide d'une imagerie à pression variable ou à angle variable. Il est équipé d'un canon à émission de champ froid, qui permet une fuite minimale d'électrons et une faible contamination des échantillons. Ceci est idéal pour l'utilisation avec des échantillons de ratio d'aspect dur et élevé. Le système est également livré avec une solution de manipulation d'échantillons « Smart Mobility » qui permet un échange d'échantillons rapide et efficace. La préparation d'échantillons et l'acquisition d'images sont très efficaces et peuvent fournir aux utilisateurs des images précises en quelques minutes. FEI F30 est équipé d'une électronique numérique et analogique de pointe et de logiciels sophistiqués pour optimiser vos capacités d'imagerie. Les logiciels polyvalents permettent de détecter, d'adapter et de suivre les paramètres du faisceau pour divers paramètres d'imagerie. Ainsi que, divers modes disponibles pour ; balayage multishot et progressif, imagerie à fort grossissement, matériaux de balayage, fonctionnement des électrons en mouvement libre et analyse de l'angle d'inclinaison des échantillons. PHILIPS TECNAI F 30 dispose du mode unique 'EasyTEM', qui simplifie les bases du fonctionnement en permettant aux opérateurs de choisir simplement des conditions d'imagerie prédéfinies en fonction du type de données d'échantillons nécessaires. FEI TECNAI F 30 combine des performances fiables et des contrôles conviviaux, ce qui en fait le choix idéal pour un large éventail d'applications scientifiques. Ce microscope est un outil précieux pour la science des matériaux, car il fournit des informations détaillées sur les propriétés physiques et chimiques des matériaux échantillons. Sa conception fiable et flexible en fait une option attrayante pour les étudiants, les chercheurs et les praticiens dans le domaine.
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