Occasion PHILIPS / FEI Tecnai F30 #9277568 à vendre en France
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Vendu
ID: 9277568
System
Gun
FEG Accelerator
Outer vessel 300 kV
TEM System:
Compustage
TEM Rack
STEM Rack
HT Tank
HT Cable
Water rack
Hand panel L, USB
Hand panel R, USB, trackball
TMP Controller
ODP System
Dual monitor
Low back ground double tilt holder
Loading tool
EDWARD RV3 Vacuum pump
Detector:
GATAN 894 CCD Camera
Water flow meter
Water tube
HAADF Stem detector
Personal Computer (PC):
Super micro TEM PC
PCI6110 For STEM
5 Ports
LAN card
Dual monitor card
Key board
Mouse
Utilities:
Main chiller
Air compressor
No objective lens chiller
No service tool box
No bake out tool
No EDS.
Le microscope électronique à balayage PhillipsPHILIPS/FEI Tecnai F30 (SEM) est un instrument unique et puissant pour l'analyse des matériaux. Il est conçu pour fournir de superbes images topographiques de surface, une analyse élémentaire de composition à haute résolution et un balayage rapide et fiable des échantillons. Ce microscope polyvalent fournit des images sous-nanométriques de résolution qui peuvent être observées en temps réel à l'aide d'une imagerie à pression variable ou à angle variable. Il est équipé d'un canon à émission de champ froid, qui permet une fuite minimale d'électrons et une faible contamination des échantillons. Ceci est idéal pour l'utilisation avec des échantillons de ratio d'aspect dur et élevé. Le système est également livré avec une solution de manipulation d'échantillons « Smart Mobility » qui permet un échange d'échantillons rapide et efficace. La préparation d'échantillons et l'acquisition d'images sont très efficaces et peuvent fournir aux utilisateurs des images précises en quelques minutes. FEI F30 est équipé d'une électronique numérique et analogique de pointe et de logiciels sophistiqués pour optimiser vos capacités d'imagerie. Les logiciels polyvalents permettent de détecter, d'adapter et de suivre les paramètres du faisceau pour divers paramètres d'imagerie. Ainsi que, divers modes disponibles pour ; balayage multishot et progressif, imagerie à fort grossissement, matériaux de balayage, fonctionnement des électrons en mouvement libre et analyse de l'angle d'inclinaison des échantillons. PHILIPS TECNAI F 30 dispose du mode unique 'EasyTEM', qui simplifie les bases du fonctionnement en permettant aux opérateurs de choisir simplement des conditions d'imagerie prédéfinies en fonction du type de données d'échantillons nécessaires. FEI TECNAI F 30 combine des performances fiables et des contrôles conviviaux, ce qui en fait le choix idéal pour un large éventail d'applications scientifiques. Ce microscope est un outil précieux pour la science des matériaux, car il fournit des informations détaillées sur les propriétés physiques et chimiques des matériaux échantillons. Sa conception fiable et flexible en fait une option attrayante pour les étudiants, les chercheurs et les praticiens dans le domaine.
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