Occasion PHILIPS / FEI Tecnai G2 F20 #293802955 à vendre en France

PHILIPS / FEI Tecnai G2 F20
ID: 293802955
Transmission Electron Microscope (TEM) Scanning Transmission Electron Microscope (STEM) LaB6 Filament Acceleration voltage: 200 kV GATAN Energy filter Electron Energy Loss Spectrometer (EELS) Tomography Energy Dispersion Spectrometer (EDS) Spatial resolution: 10-5 mm³ CCD Camera Object holders: Sample holder Cryo-holder (Liquid nitrogen temperature) Single-tilt heating holder (1500°C) Double-tilt heating holder (1100°C) Simple tilt holder Double tilt holder.
PHILIPS/FEI Tecnai G2 F20 est un microscope électronique à balayage polyvalent haute performance (SEM) conçu pour répondre aux exigences exigeantes de la recherche avancée et des applications industrielles. Cet instrument de pointe offre des capacités d'imagerie exceptionnelles, des caractéristiques analytiques et un fonctionnement convivial, ce qui le rend idéal pour une vaste gamme de nanotechnologies, de sciences des matériaux, de sciences de la vie et de recherche sur les semi-conducteurs. Au cœur de FEI Tecnai G2 F20 est une source d'électrons à émission de champ (FEG), qui fournit une luminosité et une stabilité élevées pour une résolution d'imagerie et des performances analytiques supérieures. La FEG produit un faisceau d'électrons finement focalisé avec une petite taille de sonde, permettant l'imagerie à haute résolution des échantillons à l'échelle nanométrique. Cela rend PHILIPS Tecnai G2 F20 bien adapté à l'imagerie d'une variété de matériaux, y compris des spécimens biologiques, des nanomatériaux, des polymères et des semi-conducteurs. Tecnai G2 F20 dispose d'un mode de microscopie électronique à transmission haute performance (TEM), permettant aux utilisateurs d'effectuer l'imagerie SEM et TEM sur la même plate-forme. Cette double fonctionnalité fournit aux chercheurs un ensemble complet de capacités d'imagerie pour étudier la microstructure et la composition des échantillons avec des détails inégalés. L'instrument est également équipé d'un détecteur de spectroscopie à rayons X dispersive d'énergie (EDS) pour l'analyse élémentaire, permettant aux utilisateurs d'identifier et de quantifier la composition chimique des matériaux à haute sensibilité et résolution spatiale. En plus des capacités d'imagerie et d'analyse, PHILIPS/FEI Tecnai G2 F20 propose des techniques avancées de manipulation et de caractérisation des échantillons. L'instrument est équipé d'un étage motorisé qui permet un positionnement et une navigation précis de l'échantillon, permettant aux utilisateurs de localiser et d'analyser facilement des régions spécifiques d'intérêt sur l'échantillon. FEI Tecnai G2 F20 dispose également d'étages de chauffage et de refroidissement in situ, ainsi que de systèmes d'injection de gaz, pour étudier le comportement des échantillons dans des conditions environnementales contrôlées. L'interface logicielle conviviale et les contrôles intuitifs rendent l'exploitation du PHILIPS Tecnai G2 F20 simple et efficace. L'instrument est équipé d'une gamme de fonctions d'imagerie et d'analyse automatisées, telles que la focalisation automatisée, la correction de l'astigmatisme et le réglage de l'inclinaison du faisceau, afin de rationaliser l'acquisition de données et d'améliorer la productivité. Le logiciel Tecnai G2 F20 comprend également un traitement d'image avancé et des outils d'analyse pour la visualisation d'images, l'interprétation de données et la génération de rapports. Dans l'ensemble, PHILIPS/FEI Tecnai G2 F20 est un microscope électronique à balayage de pointe qui offre une résolution d'imagerie exceptionnelle, des performances analytiques et une flexibilité opérationnelle pour une variété d'applications de recherche. Ses capacités avancées, son interface conviviale et ses fonctionnalités polyvalentes en font un outil puissant pour répondre à des questions scientifiques complexes et faire progresser notre compréhension du monde nanométrique.
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