Occasion PHILIPS / FEI Tecnai G2 F30 Twin #293604851 à vendre en France
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ID: 293604851
Transmission Electron Microscope (TEM)
STEM System for FEG
Scanned imaging technique
FISCHIONE INSTRUMENTS 3000 HAADF Detector: 300 kV
Upgraded BRUKER Quantax EDS 400 Silicon drift detector
Detector: 30 mm Window
PC
EDX Spectroscopy technique
Low-dose exposure technique and performance test
Xplore3D (Tomography except STEM tomo)
GATAN UltraScan 4000 UHS Pre-Gif CCD
With U-type coating for ultrasensitivity
Power: 300 kV
GATAN Quantum GIF 963 Energy filter
With CCD: 2000 x 2000
Energy filter embedding
EFTEM EELS Module
CCD Camera embedding
Accessory cabinet 33U, 19''
TEM Scripting
Free lens control
TEM Auto-adjust
TEM Auto-gun
LCD Monitor, 20"
Anti-contaminator
Nitrogen cooled with Be blades for TEM
JUN-AIR Compressor: 115 V, 50/60 Hz
GE Digital energy LP Uninterruptible Power Supply (UPS).
PHILIPS/FEI Tecnai G2 F30 Twin est un microscope électronique à balayage (SEM) de pointe qui combine une résolution d'imagerie extrême avec une variété d'options pour rationaliser l'utilisation du SEM. Afin d'atteindre une résolution d'imagerie maximale, FEI Tecnai G2 F30 Twin est équipé d'un détecteur d'électrons rétrodiffusés dans les lentilles et les colonnes (ESB), d'un détecteur de points Everhart-Thornley, d'un détecteur d'électrons secondaires quadruples (SE), d'un détecteur de rétrodiffusion d'énergie moyenne (MEB) et d'un détecteur d'images de taille supérieure classique. PHILIPS Tecnai G2 F30 Twin dispose également d'un porte-échantillons polyvalent capable de transporter jusqu'à 8 échantillons, d'une pipette non magnétique, d'un système d'orientation des échantillons PixelPro qui détecte automatiquement les paramètres des échantillons, d'un porte-échantillons à double inclinaison et d'une gamme d'accessoires permettant une flexibilité d'utilisation. De plus, la technique de cryo-transfert toujours polyvalente est également possible avec ce SEM. Tecnai G2 F30 Twin est également livré avec un logiciel d'analyse d'image automatisé intégré. Ce logiciel peut être utilisé pour analyser des images SEM complexes, et comporte des mathématiques d'image, des opérations d'image, le comptage manuel et automatisé des grains, ainsi que des algorithmes de reconnaissance de motifs. En outre, PHILIPS/FEI Tecnai G2 F30 Twin est équipé d'un générateur de source réglable qui permet à l'utilisateur d'ajuster et de surveiller les paramètres du faisceau, tels que la tension d'accélération et le courant. Ce générateur de source réglable dispose également d'algorithmes de contrôle innovants, permettant à l'utilisateur d'ajuster facilement l'exposition temporelle sous-milliseconde afin de capturer des événements transitoires qui seraient normalement trop rapides à discerner. FEI Tecnai G2 F30 Twin est vraiment l'un des plus puissants SEM sur le marché aujourd'hui. Avec sa technologie de pointe et ses solutions d'automatisation intégrées, le G2 F30 Twin offre une qualité d'imagerie incroyable, des capacités d'analyse de particules, une flexibilité d'utilisation et un logiciel d'analyse d'image automatisé. C'est l'outil parfait pour tout laboratoire à la recherche d'une solution SEM fiable et intuitive.
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