Occasion PHILIPS / FEI Tecnai G2 F30 Twin #9376693 à vendre en France
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Vendu
ID: 9376693
Transmission Electron Microscope (TEM)
STEM System for FEG
Scanned imaging technique
FISCHIONE INSTRUMENTS 3000 HAADF Detector: 300 kV
Upgraded BRUKER Quantax EDS 400 Silicon drift detector
Detector: 30 mm Window
PC
EDX Spectroscopy technique
Low-dose exposure technique and performance test
Xplore3D (Tomography except STEM tomo)
GATAN UltraScan 4000 UHS Pre-Gif CCD
With U-type coating for ultrasensitivity
Power: 300 kV
GATAN Quantum GIF 963 Energy filter
With CCD: 2000 x 2000
Energy filter embedding
EFTEM EELS Module
CCD Camera embedding
Accessory cabinet 33U, 19''
TEM Scripting
Free lens control
TEM Auto-adjust
TEM Auto-gun
LCD Monitor, 20"
Anti-contaminator
Nitrogen cooled with Be blades for TEM
JUN-AIR Compressor: 115 V, 50/60 Hz
GE Digital energy LP Uninterruptible Power Supply (UPS).
PHILIPS/FEI Tecnai G2 F30 Twin est un microscope électronique à balayage à haute performance à émission de champ (FE-SEM) utilisé pour des applications d'imagerie à l'échelle nanométrique dans la recherche et l'industrie. Il dispose d'une source d'émission avancée sur le terrain qui permet aux utilisateurs un débit élevé et des temps de cycle courts, ce qui en fait l'un des instruments les plus puissants de sa catégorie. Le G2 F30 a une haute résolution de 0,7nm et une distance de travail de 30,0 millimètres, fournissant un grossissement de 5x à 300000x. Il offre à la fois des modes à vide élevé et faible pour une gamme d'applications incluant l'imagerie, l'analyse granulométrique et l'analyse de composition. Les microscopes utilisent un grand nombre de détecteurs pour capturer un large éventail de caractéristiques de différentes régions d'intérêt. Sa technologie de balayage progressif permet l'acquisition d'images haute résolution avec une caméra vidéo numérique à faible coût. Le système est équipé d'une variété de capacités automatisées de traitement d'image, telles que la production de couches MEBES, l'analyse numérique et la couture d'image. Le G2 F30 comporte un étage d'inclinaison/rotation entièrement intégré qui permet un positionnement précis des échantillons à n'importe quel angle d'inclinaison ou de rotation. L'instrument comprend un logiciel automatisé pour la préparation et la présentation des données, ainsi qu'une gamme de fonctionnalités matérielles qui peuvent être personnalisées en fonction des besoins spécifiques de l'utilisateur. Le G2 F30 offre des niveaux élevés d'utilisation étendue, avec une interface utilisateur intuitive qui simplifie le fonctionnement et la reconnaissance automatique des échantillons. Sa gamme de modes de numérisation et d'imagerie offre aux utilisateurs une qualité d'imagerie et un contrôle supérieurs. Ce microscope offre également des systèmes avancés pour le contrôle de l'énergie des faisceaux, et des logiciels innovants permettant un contrôle complet du processus de préparation des échantillons. Cela fait du G2 F30 un outil puissant pour l'imagerie et la recherche à l'échelle nanométrique.
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