Occasion PHILIPS / FEI Tecnai G2 Spirit Twin #293600943 à vendre en France

PHILIPS/FEI Tecnai G2 Spirit Twin scanning electron microscope (SEM) est un équipement d'imagerie avancé conçu pour obtenir une analyse microstructurale détaillée. Il offre une haute résolution et l'imagerie de contraste ainsi que des capacités automatiques d'acquisition d'image et de traitement d'image. Ce système est idéal pour un large éventail d'applications, telles que l'analyse des défaillances des semi-conducteurs, l'analyse des nanostructures, la recherche en sciences des matériaux et l'ingénierie des matériaux. FEI Tecnai G2 Spirit Twin dispose d'une chambre à vide ultra-haute équipée d'un canon à émission de champ (FEG). Cette unité produit un faisceau d'électrons hautement contrôlé et fiable qui est capable d'obtenir des images avec une résolution allant jusqu'à 1 nanomètre. Le faisceau d'électrons FEG permet des densités de courant très élevées et des grossissements jusqu'à 500.000x. Le SEM est capable d'imiter des spécimens en mode électronique secondaire et rétrodiffusé (ESB) ainsi qu'en mode Topografiner ou tomographie 3D à haute résolution. Les systèmes d'acquisition automatique d'images permettent une imagerie rapide et précise de tout type de spécimen. Le logiciel de contrôle et d'automatisation Image Explorer permet à l'utilisateur de naviguer facilement à travers plusieurs images simultanément, tout en fournissant des méthodes d'analyse automatisées puissantes. PHILIPS Tecnai G2 Spirit Twin dispose d'un étage d'échantillonnage avec une grande surface d'échantillon et une plage d'inclinaison de +/- 70 ° qui permet l'imagerie avec n'importe quelle orientation. Cette machine dispose d'une station de préparation SEM entièrement automatisée qui peut être utilisée pour le conditionnement des échantillons. L'outil Tecnai G2 Spirit Twin dispose de capacités d'imagerie numérique avancées qui comprennent des contrôles de contraste et d'intensité, qui peuvent mesurer à la fois la luminosité et la couleur des images de balayage. La vitesse de traitement rapide de l'actif garantit un taux de trame élevé et des capacités interactives avec un minimum de retard. Les outils avancés d'analyse d'imagerie interactive comprennent EDS/EDX, 3D-XKR et 3D-XRA. Dans l'ensemble, PHILIPS/FEI Tecnai G2 Spirit Twin est un microscope électronique à balayage puissant, polyvalent et facile à utiliser conçu pour faciliter l'analyse microstructurale. Avec une imagerie haute résolution, une vitesse d'acquisition d'image rapide et une gamme d'outils d'analyse d'image, ce modèle est bien adapté à un large éventail d'applications.