Occasion PHILIPS / FEI Tecnai G2 TF20 #9361086 à vendre en France
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Vendu
ID: 9361086
Style Vintage: 2004
Transmission Electron Microscope (TEM)
With STEM mode
Voltage range: 40 to 200 kV
Bright field / Dark field
Secondary electron detector for STEM mode
Energy Dispersive Spectroscopy (EDS) detector
Chiller
FEG Microscope
Field emitter gun
Camera: CCD Orius
SC 1000 CCD
With A860 GIF 2000
Electron Energy Loss Spectroscopy (EELS)
Energy Filtered TEM (EFTEM)
Nanometer Pattern Generating System (NPGS)
FEG Replaced
Point resolution: 0.27 nm
Line resolution: 0.144 nm
STEM Resolution: 1.0 nm
Information limit: 0.18 nm
Energy spread: 0.7 eV
Maximum alpha-tilt angle with double-tilt holder: ±50°
Maximum diffraction angle: ±10°
Camera length: 35-2300 mm
EDS Solid angle: 0.13 srad
Standalone PC
Operating system: Windows XP
Voltage range: 80 to 300 kV
Power supply: 200kV
2004 vintage.
PHILIPS/FEI Tecnai G2 TF20 est un microscope électronique à balayage à haute performance à émission de champ (FESEM). Il est conçu pour des applications en science des matériaux, imagerie de cellules vivantes et imagerie nano-échelle. Cet équipement dispose d'une combinaison unique de résolution supérieure et de correction d'aberration supérieure par rapport à d'autres FESEMs. La fonction avancée Auto-Tune maintient les conditions optimales de faisceau et assure des performances constantes pour la durée de la séance de travail. Le G2 TF20 est équipé d'une source d'émission de champ haute résolution (FEG), qui offre une stabilité de tension d'accélération supérieure et d'excellentes performances d'imagerie haute résolution. Ce système a des capacités de détection de rayons X pour la microanalyse de matériaux, et est également capable d'imagerie in situ d'échantillons biologiques. Le G2 TF20 dispose d'une unité unique entièrement intégrée conçue pour des observations d'échantillons de haute précision. La machine TM-MDIS offre une solution d'imagerie avancée pour améliorer la caractérisation et l'observation des échantillons. Il offre une combinaison unique de 3D-White LightTM, de KöhlerTM numérique et d'illumination structurée multidimensionnelle pour fournir un niveau d'information 3D sans précédent. Le G2 TF20 est équipé avec un 30 outil de détecteur de résolution nm, en permettant l'observation des plus petits traits d'un échantillon en détail. L'actif fournit également des techniques d'imagerie avancées telles que SE-BF, SE-DF, SE-APRT, SE-LF et SE-BSE pour obtenir des informations 3D sur votre échantillon. De plus, le G2 TF20 offre également des capacités automatisées de reconnaissance et d'analyse des caractéristiques pour caractériser et quantifier efficacement les caractéristiques de surface et les composants de microstructure. Ce modèle offre une automatisation puissante et une facilité d'utilisation pour réduire considérablement le temps d'utilisation et augmenter la productivité du laboratoire. Le G2 TF20 est le microscope électronique à balayage ultime pour les chercheurs et les ingénieurs qui ont besoin d'une imagerie haute résolution et d'un large éventail d'outils analytiques innovants pour la caractérisation de leur échantillon.
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