Occasion PHILIPS / FEI Tecnai G2 TF20 #9361086 à vendre en France

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ID: 9361086
Style Vintage: 2004
Transmission Electron Microscope (TEM) With STEM mode Voltage range: 40 to 200 kV Bright field / Dark field Secondary electron detector for STEM mode Energy Dispersive Spectroscopy (EDS) detector Chiller FEG Microscope Field emitter gun Camera: CCD Orius SC 1000 CCD With A860 GIF 2000 Electron Energy Loss Spectroscopy (EELS) Energy Filtered TEM (EFTEM) Nanometer Pattern Generating System (NPGS) FEG Replaced Point resolution: 0.27 nm Line resolution: 0.144 nm STEM Resolution: 1.0 nm Information limit: 0.18 nm Energy spread: 0.7 eV Maximum alpha-tilt angle with double-tilt holder: ±50° Maximum diffraction angle: ±10° Camera length: 35-2300 mm EDS Solid angle: 0.13 srad Standalone PC Operating system: Windows XP Voltage range: 80 to 300 kV Power supply: 200kV 2004 vintage.
PHILIPS/FEI Tecnai G2 TF20 est un microscope électronique à balayage à haute performance à émission de champ (FESEM). Il est conçu pour des applications en science des matériaux, imagerie de cellules vivantes et imagerie nano-échelle. Cet équipement dispose d'une combinaison unique de résolution supérieure et de correction d'aberration supérieure par rapport à d'autres FESEMs. La fonction avancée Auto-Tune maintient les conditions optimales de faisceau et assure des performances constantes pour la durée de la séance de travail. Le G2 TF20 est équipé d'une source d'émission de champ haute résolution (FEG), qui offre une stabilité de tension d'accélération supérieure et d'excellentes performances d'imagerie haute résolution. Ce système a des capacités de détection de rayons X pour la microanalyse de matériaux, et est également capable d'imagerie in situ d'échantillons biologiques. Le G2 TF20 dispose d'une unité unique entièrement intégrée conçue pour des observations d'échantillons de haute précision. La machine TM-MDIS offre une solution d'imagerie avancée pour améliorer la caractérisation et l'observation des échantillons. Il offre une combinaison unique de 3D-White LightTM, de KöhlerTM numérique et d'illumination structurée multidimensionnelle pour fournir un niveau d'information 3D sans précédent. Le G2 TF20 est équipé avec un 30 outil de détecteur de résolution nm, en permettant l'observation des plus petits traits d'un échantillon en détail. L'actif fournit également des techniques d'imagerie avancées telles que SE-BF, SE-DF, SE-APRT, SE-LF et SE-BSE pour obtenir des informations 3D sur votre échantillon. De plus, le G2 TF20 offre également des capacités automatisées de reconnaissance et d'analyse des caractéristiques pour caractériser et quantifier efficacement les caractéristiques de surface et les composants de microstructure. Ce modèle offre une automatisation puissante et une facilité d'utilisation pour réduire considérablement le temps d'utilisation et augmenter la productivité du laboratoire. Le G2 TF20 est le microscope électronique à balayage ultime pour les chercheurs et les ingénieurs qui ont besoin d'une imagerie haute résolution et d'un large éventail d'outils analytiques innovants pour la caractérisation de leur échantillon.
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