Occasion PHILIPS / FEI Tecnai G2 #293792271 à vendre en France

PHILIPS/FEI Tecnai G2 est un microscope électronique à balayage (SEM) de pointe conçu pour la caractérisation courante et avancée des matériaux. Il dispose d'un canon à électrons à émission de champ (FEG) qui fournit des courants de faisceau extrêmement élevés de l'ordre de 1 à 140 pA, permettant une imagerie à plus haute résolution et des temps d'acquisition plus rapides. Le G2 comporte une grande chambre de visualisation et de manipulation des échantillons. Les étages à trois axes peuvent positionner l'échantillon à travers une gamme de mouvements avec des vitesses de moteur allant jusqu'à 15 mm/s, et une inclinaison de la chambre d'échantillon de ± 60 °. Un axe porte-air permet une rotation de haute précision et un basculement de l'échantillon. Le G2 utilise un appareil monochrome à couple chargé (CCD) pour l'imagerie. La caméra standard a une résolution efficace jusqu'à 2560x1920 pixels, permettant des vues détaillées de la surface de l'échantillon. Le détecteur angulaire d'électrons secondaires Accélx (SE) (AD) et le détecteur d'électrons rétrodiffusés (BE) (BD) sont également disponibles pour l'imagerie en mode contrasté et monochrome, respectivement. Le G2 est équipé d'une source d'émission de champ Schottky (FES) pour la modulation de courant. Cela permet une imagerie haute résolution ainsi que des capacités analytiques. Avec la FES, les utilisateurs peuvent observer la microstructure de l'échantillon à un niveau nanométrique avec plus de précision qu'avec les SEM traditionnels. Le courant peut être réglé finement, permettant une imagerie SEM précise ainsi que la spectroscopie X dispersive d'énergie (EDS) pour les analyses élémentaires et chimiques. FEI Tecnai G2 est un instrument polyvalent pour l'imagerie haute résolution et la quantification élémentaire précise. Avec sa source d'émission de champ de grande puissance, ses détecteurs à haute résolution et sa grande chambre d'échantillonnage, il offre une gamme complète de possibilités pour tout type de caractérisation des matériaux.