Occasion PHILIPS / FEI Tecnai G2 #9350685 à vendre en France

PHILIPS/FEI Tecnai G2 est un microscope électronique à balayage utilisé dans une grande variété d'applications, y compris la science des matériaux, la production de dispositifs médicaux et la fabrication de semi-conducteurs. La technologie fondamentale du microscope est celle du faisceau d'électrons à balayage qui, en parcourant un échantillon, donne une image à haute résolution et profondeur de champ. FEI Tecnai G2 est spécifiquement un microscope électronique à balayage à focale réglable (STEM), combinant de façon unique les caractéristiques du microscope TEM et SEM dans un seul instrument. PHILIPS Tecnai G2 est équipé d'un équipement d'imagerie numérique avancé, d'algorithmes optimisés de capture et de traitement, et a une taille de tache aussi petite que 31,5 nm. Cela permet d'imaginer même les plus petites structures, avec un contraste, une résolution, un détail et une netteté élevés. En outre, Tecnai G2 dispose d'un système de détection STEM à champ quadrupolaire réglable avec imagerie tridimensionnelle qui augmente sensiblement le contraste en supprimant les électrons secondaires détectés dans le mode d'imagerie SEM classique. L'unité STEM à champ réglable permet également l'analyse d'une seule particule et des cartes élémentaires. En plus de toutes ces fonctions d'imagerie haute puissance, PHILIPS/FEI Tecnai G2 est spécialement conçu pour la caractérisation des matériaux. Il est équipé de la machine à rayons X dispersifs (EDX), qui permet l'analyse élémentaire des échantillons avec une sensibilité et une résolution supérieures. Combinés à la cartographie EDS haute définition, les utilisateurs ont la capacité de caractériser la structure/composition et les caractéristiques microstructurales des échantillons avec une excellente précision. Le microscope comporte également une étape de cryo-ultramicrotomie pour la préparation des échantillons et le cryo-transfert des échantillons, ainsi qu'une technique d'inclinaison rapide pour l'imagerie corrigée de l'aberration. En résumé, le microscope électronique à balayage FEI Tecnai G2 est un instrument multifonctionnel avancé conçu pour réaliser l'imagerie haute résolution et la caractérisation des matériaux de divers échantillons. Sa technologie STEM à focalisation réglable et ses capacités de cartographie EDX et EDS permettent aux utilisateurs d'inspecter les caractéristiques microstructurales dans des détails inégalés.