Occasion PHILIPS / FEI Tecnai G2 #9399892 à vendre en France

Le microscope électronique à balayage PHILIPS/FEI Tecnai G2 (SEM) est un puissant outil d'imagerie et d'analyse d'échantillons à l'échelle nanométrique. Sa large gamme de fonctionnalités et de fonctions le rendent idéal pour une variété d'applications. FEI Tecnai G2 dispose d'un environnement en chambre avancé qui permet le fonctionnement même des échantillons les plus délicats dans une atmosphère contrôlée sans avoir besoin d'une chambre à vide externe. Son optique électronique à grande vitesse fournit une résolution d'image allant jusqu'à 1nm, et sa technologie de pointe permet d'observer des détails d'échantillons minuscules. Le spectromètre intégré Oxford Energy Dispersive X-ray (EDX) améliore encore la capacité du SEM, permettant aux opérateurs d'effectuer une analyse élémentaire de l'échantillon. Le spectromètre EDS est équipé d'une technologie d'imagerie numérique avancée, fournissant des images de contraste élevé qui permettent une cartographie élémentaire précise. L'option d'imagerie à pression variable permet d'imager des échantillons à des grossissements plus importants que ce qui serait possible dans un SEM classique à vide élevé. Cette caractéristique est particulièrement utile pour les échantillons organiques, car elle permet de les étudier en profondeur sans les endommager. PHILIPS Tecnai G2 offre une variété d'autres fonctionnalités, y compris des mécanismes de manipulation avancés pour ramasser, déplacer et positionner des échantillons ; détection in-focus pour un contraste maximal ; et revêtement de carbone vitreux pour l'imagerie d'échantillons sur un faisceau basse tension. Tecnai G2 comprend également des logiciels uniques pour le contrôle d'imagerie, l'analyse et la rédaction de rapports pour améliorer les capacités d'imagerie de ce SEM polyvalent. Dans l'ensemble, le microscope électronique à balayage PHILIPS/FEI Tecnai G2 est un puissant outil d'imagerie et d'analyse d'échantillons à l'échelle nanométrique. Ses capacités d'imagerie et de contrôle avancées, l'imagerie à pression variable et les progiciels en font un choix idéal pour une large gamme d'applications de caractérisation nanostructurale.