Occasion PHILIPS / FEI Tecnai T20 #293595306 à vendre en France

PHILIPS/FEI Tecnai T20 Scanning Electron Microscope (SEM) est un appareil d'imagerie puissant et fiable conçu pour capturer des détails complexes et révéler les structures internes et la composition des échantillons. Ses caractéristiques avancées, telles que la détection de pression variable, et les modes d'imagerie spécialisés en font un choix idéal pour un large éventail d'industries. FEI Tecnai T20 SEM a une variété de capacités d'imagerie et de paramètres à choisir. Il utilise une source d'électrons constituée d'un canon à électrons et d'un amplificateur électronique pour générer un faisceau d'électrons et agrandir l'image. Le faisceau est alors focalisé sur l'échantillon et les données capturées sont transmises à un moniteur pour affichage. Le SEM fournit également un ensemble de capacités d'imagerie dédiées telles que l'imagerie filtrée par l'énergie, la détection de pression variable, l'imagerie électronique rétrodiffusée et le mode de retard électronique. Le détecteur de pression variable est conçu pour évaluer des échantillons dans des études telles que l'aérospatiale et les applications automobiles. Le mode à pression variable utilise un vide réglable pour observer des échantillons robustes et délicats même dans des conditions et un environnement difficiles. Le faible débit de dose du détecteur à pression variable réduit considérablement les effets de charge afin de préserver les structures délicates des échantillons. Le mode double vide PHILIPS T20 SEM permet aux chercheurs d'examiner les échantillons non conducteurs avec facilité et précision. La technologie du double vide permet également de scanner une variété d'échantillons, allant des matériaux conducteurs aux matériaux non conducteurs. Le système d'imagerie flexible prévoit également une capacité de carrelage pour l'analyse d'échantillons à grande échelle. La capacité d'imagerie haute résolution de PHILIPS/FEI T20 SEM permet une analyse détaillée d'une gamme d'échantillons allant de petits circuits à de grands échantillons. La plage de grossissement est de 5x à 300.000x. Il dispose également d'une gamme de fonctions de navigation et d'imagerie automatisées, telles que le balayage rapide d'échantillons, la visualisation au niveau atomique, l'acquisition automatique d'images et les capacités de piquage d'images. Le fonctionnement automatisé en temps réel de FEI T20 SEM permet de traiter un grand nombre d'échantillons afin d'identifier ou de caractériser les caractéristiques d'un échantillon rapidement et efficacement. L'unité enregistre et stocke également toutes les données d'imagerie pendant le processus d'exploitation et fournit à l'utilisateur des capacités d'archivage, de visualisation et d'analyse d'images. Dans l'ensemble, PHILIPS Tecnai T20 SEM est une machine d'imagerie efficace et puissante qui fournit des structures détaillées et la composition d'échantillons complexes. Sa polyvalence et sa capacité à fournir une imagerie de qualité pour des applications exigeantes en font un choix populaire pour une variété d'industries. C'est vraiment un excellent outil pour la recherche avancée et l'imagerie.