Occasion PHILIPS / FEI Tecnai TF20 #293748941 à vendre en France

PHILIPS/FEI Tecnai TF20 est un microscope électronique à balayage polyvalent (SEM) conçu pour l'imagerie haute résolution, l'analyse analytique et l'analyse de composition de matériaux micro-structurés. C'est l'un des systèmes SEM les plus avancés avec une large sélection d'instruments d'analyse puissants. L'instrument est équipé d'une lentille magnétique de 20 kV, d'un filament de tungstène recouvert d'oxyde pour l'imagerie à faible intensité et à champ lumineux. Il est équipé d'un détecteur de rétrodiffusion Everhart-Thornley qui permet la collecte simultanée d'électrons secondaires et rétrodiffusés qui améliore le contraste entre les caractéristiques de l'échelle nanométrique. FEI Tecnai TF20 dispose d'un équipement automatique de transfert d'échantillons de haute précision qui permet un alignement précis des échantillons et permet également un contrôle parallèle de la dérive. Il offre également une grande phase d'inclinaison et de rotation de l'échantillon qui permet de visualiser l'échantillon sur un large éventail d'angles. Ceci est particulièrement bénéfique dans l'imagerie et l'analyse de microstructures fines et est idéal pour l'imagerie nanostructure, la cartographie élémentaire et le balayage analytique. PHILIPS TECNAI TF-20 propose une série d'instruments d'analyse avancés, ce qui en fait un outil puissant pour l'analyse des matériaux. Le système de spectroscopie dispersive de l'énergie (EDS) utilise un détecteur de 60 canaux à épinette continue pour identifier et quantifier la composition élémentaire des spécimens. En outre, l'unité utilise une machine de spectroscopie à perte d'énergie électronique EELS à rendement jEOL qui est capable d'effectuer une spectroscopie de niveau de coeur haute résolution des matériaux. Pour la détection de charge, FEI TECNAI TF-20 est correspondu avec ViewPoint 5-D en Lisant le Détecteur Chargé rapidement, en fournissant des renseignements de niveau de charge complets. Ce détecteur est combiné avec les capacités de grossissement élevé du SEM et est utilisé pour capturer les informations de surface et de sous-surface. PHILIPS/FEI TECNAI TF-20 offre une large gamme d'autres fonctions, y compris la préparation des cryo-échantillons Evercool et les étapes uniovales de chauffage et de refroidissement pour réduire les chocs thermiques et protéger davantage les échantillons pendant l'imagerie. Des fonctions automatisées comme la compensation de dérive et l'auto-focus aident à maintenir des résultats cohérents et à augmenter la vitesse d'imagerie. En plus de ses capacités d'analyse, TECNAI TF-20 offre une gamme de fonctions logicielles. Il est compatible avec une vaste sélection de logiciels d'analyse et de mesure d'images, et peut être utilisé avec des logiciels de modélisation et d'analyse stéréo 3D, permettant aux utilisateurs de mesurer et d'analyser interactivement des ensembles de données 3D. Dans l'ensemble, Tecnai TF20 est un puissant microscope électronique à balayage qui offre un large éventail de fonctionnalités et de capacités pour l'analyse des matériaux. Avec ses capacités analytiques impressionnantes et polyvalentes, PHILIPS Tecnai TF20 est un choix idéal pour les laboratoires de recherche et commerciaux effectuant l'analyse et la caractérisation des matériaux.