Occasion PHILIPS / FEI Titan 80-300 #293777416 à vendre en France

PHILIPS/FEI Titan 80-300 Scanning Electron Microscope (SEM) est un appareil moderne et performant conçu pour produire des images à haute résolution de divers échantillons. Avec sa grande distance de travail, ses excellentes capacités de contraste et de résolution, cet instrument est idéal pour des applications d'inspection et de recherche exigeantes. En optique, le FEI Titan 80-300 SEM est équipé d'une colonne dans l'objectif, qui assure une imagerie très précise des petits détails avec la plus haute résolution possible. La colonne dispose d'un canon à émission de champ, qui possède une densité de courant très élevée et offre par conséquent une résolution améliorée sur tous les grossissements. L'optique électronique permet également une distance de travail extrêmement large, ce qui permet aux utilisateurs de manipuler des objets plus grands pour l'imagerie détaillée. En termes de capacités de manipulation des échantillons, PHILIPS Titan 80-300 utilise un étage X-Y automatisé pour un positionnement précis ; Grâce à ce système, l'utilisateur peut sélectionner, évaluer et représenter une région de l'échantillon avec une grande précision. De plus, l'étape XY comprend également un mécanisme de porte-échantillon qui permet un échange rapide d'échantillons en combinaison avec la cartographie de la profondeur de l'échantillon. Titan 80-300 est également équipé de détecteurs ESB et SE qui améliorent les capacités d'imagerie du SEM. Le détecteur SE produit des images de bonne qualité qui offrent des informations détaillées sur la topographie du spécimen, tandis que le détecteur ESB produit des cartes de composition qui peuvent être utilisées pour identifier les différentes phases présentes dans le spécimen. De plus, ce SEM utilise un détecteur d'électrons rétrodiffuseur qui offre une analyse approfondie pour des applications nécessitant des images de rayons X haute énergie. PHILIPS/FEI Titan 80-300 offre des fonctionnalités conviviales sophistiquées pour un fonctionnement efficace. Par exemple, l'opérateur peut accéder aux dernières mises à jour et applications logicielles développées par FEI pour le SEM directement à partir du logiciel, à mesure qu'elles deviennent disponibles, ce qui permet de se tenir au courant des dernières avancées technologiques. De plus, le FEI Titan 80-300 SEM est conçu pour être compatible avec divers programmes de conception et d'imagerie tels que le logiciel PHILIPS TEMPLEX. En termes de stabilité, PHILIPS Titan 80-300 peut maintenir une qualité d'image et une stabilité exceptionnelles pendant de longues périodes, ce qui le rend idéal pour la recherche et l'éducation. Grâce à ses compensations thermiques et mécaniques intégrées, Titan 80-300 est très adapté aux applications d'analyse de spécimens sur de longues périodes. En conclusion, PHILIPS/FEI Titan 80-300 Scanning Electron Microscope est un instrument fiable et performant qui offre polyvalence et précision pour une variété d'applications cliniques et de recherche. Avec sa grande distance de travail, son excellente résolution, son étage XY automatisé et sa colonne dans les lentilles, ce SEM est l'outil parfait pour obtenir des images haute définition d'échantillons pour des applications d'inspection exigeantes.