Occasion PHILIPS / FEI Titan 80-300 #9220220 à vendre en France

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ID: 9220220
Analytical transmission electron microscope (TEM) With superX upgrade 2010-2015 vintage.
PHILIPS/FEI Titan 80-300 est un microscope électronique à balayage (SEM) équipé d'un canon à émission de champ (FEG). Ce microscope est un outil puissant pour analyser des échantillons dans divers domaines, tels que la nanotechnologie, la science des matériaux et la recherche sur les semi-conducteurs. FEI Titan 80-300 utilise une source d'électrons FEG de pointe, avec un filament de tungstène jusqu'à cinq fois plus stable que d'autres sources SEM classiques. Cela permet au microscope de produire des images sous-nanométriques de résolution avec de faibles doses d'électrons, ce qui le rend idéal pour l'analyse d'échantillons qui nécessite des dommages minimes de l'échantillon. Le microscope offre un large champ de vision, avec la possibilité de scanner jusqu'à 800 microns dans l'espace libre. Il comprend aussi des détecteurs coaxiaux et environnementaux, y compris des détecteurs rétrodiffusés, des détecteurs d'électrons secondaires et des détecteurs de rayons X. Le microscope est également livré avec un logiciel avancé d'analyse d'images qui permet aux chercheurs d'analyser des structures complexes avec précision. La flexibilité de PHILIPS Titan 80-300 lui permet d'être facilement configuré pour plusieurs modes d'imagerie, y compris les techniques avancées STEM et SEM telles que l'imagerie à double faisceau, l'imagerie électrostatique et l'imagerie filtrée par l'énergie. En plus des capacités d'imagerie, Titan 80-300 comprend également une chambre d'échantillonnage avec une compatibilité sous vide jusqu'à 5 x 10-5 mbar, un système EDS pour l'analyse élémentaire, et une méthode de diffusion pour mesurer la rugosité de surface et la topographie des échantillons. Dans l'ensemble, PHILIPS/FEI Titan 80-300 offre des capacités d'imagerie avancées avec une résolution sous-nanométrique et plusieurs modes d'imagerie tout en préservant l'intégrité des échantillons. Ce SEM puissant est un outil polyvalent pour caractériser et analyser une variété de matériaux, ce qui en fait un atout précieux pour les chercheurs.
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