Occasion PHILIPS / FEI Titan CI Cs #293729611 à vendre en France

ID: 293729611
Transmission Electron Microscope (TEM) 2010 vintage.
PHILIPS/FEI Titan CI Cs est un microscope électronique à balayage de pointe (SEM) développé par Thermo Fisher Scientific. Largement reconnu comme un outil de premier plan pour l'imagerie et l'analyse haute résolution, FEI Titan CI Cs intègre une technologie de pointe et des fonctionnalités innovantes pour permettre aux scientifiques et aux chercheurs d'explorer le monde à micro et nano-échelle avec une précision et une clarté inégalées. Au cœur de PHILIPS Titan CI Cs se trouve sa source d'électrons à émission de champ froid (CFE), qui produit un faisceau d'électrons exceptionnellement étroit avec une luminosité et une cohérence inégalées. Il en résulte une résolution et une sensibilité d'imagerie supérieures, permettant aux utilisateurs de visualiser des détails et des structures fines avec une clarté et une précision remarquables. La source CFE permet également l'acquisition rapide d'images et la collecte de données, améliorant la productivité et l'efficacité dans les expériences SEM. Titan CI Cs est équipé d'un correcteur Cs, qui compense les aberrations des lentilles et améliore considérablement la cohérence et la luminosité de la sonde électronique. Ce mécanisme de correction améliore la résolution d'imagerie et le contraste, permettant aux utilisateurs d'obtenir des images de haute qualité même à des grossissements élevés. De plus, le correcteur Cs permet à PHILIPS/FEI Titan CI Cs de réaliser des techniques d'imagerie avancées telles que la microscopie électronique à haute résolution à transmission par balayage (STEM) et l'imagerie à résolution atomique. Le microscope dispose d'un système de vide à haute stabilité qui maintient des conditions de vide ultra-élevées, assurant une contamination minimale des échantillons et maximisant les performances d'imagerie. FEI Titan CI Cs est également équipé d'un système d'optique électronique de pointe, comprenant des lentilles électrostatiques et magnétiques, des déflecteurs de faisceau et des détecteurs, qui contribuent collectivement à optimiser les capacités d'imagerie et la polyvalence analytique. Avec une gamme de modes de fonctionnement sélectionnables, les utilisateurs peuvent personnaliser les paramètres d'imagerie en fonction de divers types d'échantillons et exigences expérimentales. PHILIPS Titan CI Cs offre une plate-forme polyvalente pour conduire un large éventail de techniques SEM, y compris l'imagerie électronique secondaire, l'imagerie électronique rétrodiffusée, la spectroscopie X dispersive d'énergie (EDS), la diffraction par rétrodiffusion d'électrons (EBSD) et l'imagerie cathodoluminescence. L'interface utilisateur intuitive et les contrôles logiciels de l'instrument facilitent le fonctionnement et l'analyse des données, permettant aux utilisateurs de mettre rapidement en place des expériences, d'acquérir des images de haute qualité et d'effectuer une analyse quantitative et un traitement d'image. Titan CI Cs est également compatible avec une gamme d'accessoires et de systèmes complémentaires, tels que des porte-échantillons in situ, des chambres environnementales et des accessoires analytiques, élargissant encore ses capacités pour des applications de recherche avancées. En conclusion, PHILIPS/FEI Titan CI Cs représente un système SEM de pointe qui établit de nouvelles normes en matière de résolution d'imagerie, de performance analytique et de commodité d'utilisation. Qu'il s'agisse des sciences des matériaux, des sciences de la vie, des géosciences ou d'autres disciplines de recherche, le FEI Titan CI Cs offre un mélange inégalé de technologies de pointe, d'ingénierie de précision et de conception conviviale, ce qui en fait un outil indispensable pour la découverte et l'innovation scientifiques.
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