Occasion PHILIPS / FEI Titan G2 60-300 #293793950 à vendre en France
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ID: 293793950
Transmission Electron Microscope (TEM)
Field Emission Gun (FEG)
Scanning Transmission Electron Microscope (STEM)
Electron Energy Loss Spectrometer (EELS)
High Angle Annular Dark Field (HAADF)
Energy Dispersive X-Ray (EDX) spectrometer
EDAX Genesis 4000 Solid state Si (Li) detector
Sample holder
GATAN 652 Double-tilt heating stage: Up to 1000°C
Diameter grids: 3 mm
Accelerating voltages: 60, 80, 200 and 300 keV
Thickness: 20-120 nm
Resolution: 0.1-0.2 eV
Energy resolution:
100-150 MeV at 200 kV
150-200 MeV at 300 kV.
FEI (Field Emission Instruments) PHILIPS/FEI Titan G2 60-300 microscope électronique à balayage est un outil d'analyse de pointe qui offre des capacités d'imagerie et d'analyse avancées pour un large éventail d'applications scientifiques. Cet instrument sophistiqué combine l'imagerie haute résolution avec l'analyse élémentaire et la caractérisation de surface, ce qui en fait un outil polyvalent pour la recherche en sciences des matériaux, en nanotechnologie, en biologie et dans d'autres domaines. Avec une tension d'accélération maximale de 300 kV, le titan FEI G2 60-300 est capable d'obtenir une imagerie ultra haute résolution à l'échelle nanométrique. Sa source d'électrons d'émission de champ fournit un faisceau d'électrons hautement focalisé avec une excellente luminosité et stabilité, permettant une qualité d'imagerie supérieure et une résolution sous-nanométrique. Ce haut niveau de résolution est essentiel pour observer les détails de surface fine, les caractéristiques structurelles et les particules nanométriques dans les échantillons. En plus des capacités d'imagerie, PHILIPS Titan G2 60-300 est équipé d'une gamme de détecteurs analytiques pour effectuer l'analyse élémentaire et la cartographie. Les détecteurs de spectroscopie à rayons X dispersifs en énergie (EDS) et de spectroscopie à rayons X dispersifs en longueur d'onde (WDS) permettent d'identifier et de quantifier les éléments présents dans l'échantillon, jusqu'à des niveaux de traces. Cette fonctionnalité d'analyse élémentaire est cruciale pour comprendre la composition chimique et la distribution des éléments au sein d'un échantillon. Une autre caractéristique clé du Titan G2 60-300 est son système avancé d'optique électronique, qui comprend une technologie innovante de correction d'aberration. Cette technologie permet de corriger la distorsion d'image et d'améliorer la qualité globale de l'image, ce qui donne des images plus précises et plus détaillées. Les capacités d'imagerie corrigées de l'aberration de PHILIPS/FEI Titan G2 60-300 le rendent particulièrement adapté à l'imagerie haute résolution d'échantillons complexes et de matériaux difficiles. Le microscope est également équipé d'une gamme de capacités de manipulation d'échantillons pour accueillir divers types et tailles d'échantillons. L'étage motorisé permet un positionnement et une manipulation précis de l'échantillon, tandis que les porte-échantillons spécialisés et les chambres permettent l'analyse de diverses configurations d'échantillons, y compris des couches minces, des nanoparticules, des échantillons biologiques, et plus encore. En outre, FEI Titan G2 60-300 offre un logiciel de contrôle et d'analyse de données avancé pour la gestion des paramètres d'imagerie, l'acquisition de données et le traitement des résultats. L'interface utilisateur intuitive et les outils logiciels sophistiqués rationalisent le fonctionnement du microscope, le rendant accessible aux utilisateurs novices et expérimentés. Les capacités d'imagerie en temps réel et de visualisation des données en direct améliorent l'efficacité des processus d'acquisition et d'analyse des données. Dans l'ensemble, le microscope électronique à balayage PHILIPS Titan G2 60-300 est un instrument de pointe doté de capacités d'imagerie et d'analyse exceptionnelles pour un large éventail de disciplines scientifiques. Son imagerie haute résolution, ses capacités d'analyse élémentaire, sa technologie de correction de l'aberration et ses fonctionnalités logicielles avancées en font un outil polyvalent pour la recherche et le développement dans les milieux universitaires et industriels. Qu'il s'agisse d'étudier la structure des matériaux, d'analyser la composition chimique ou d'étudier les phénomènes nanométriques, Titan G2 60-300 fournit aux chercheurs les outils dont ils ont besoin pour explorer et comprendre le monde au niveau microscopique.
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