Occasion PHILIPS / FEI Titan G2 Cubed 80-300 #293813596 à vendre en France

PHILIPS/FEI Titan G2 Cubed 80-300 est un microscope électronique à balayage de pointe (SEM) qui intègre une technologie de pointe pour fournir des capacités d'imagerie et d'analyse haute résolution pour diverses applications dans les domaines des sciences des matériaux, des sciences de la vie et des nanotechnologies. Cet instrument de pointe est conçu pour offrir aux chercheurs et aux scientifiques un outil puissant pour étudier la microstructure et la composition d'un large éventail d'échantillons avec une précision et un détail exceptionnels. L'une des caractéristiques clés de la FEI Titan G2 Cubed 80-300 est son système d'optique électronique haute performance, qui comprend une source d'électrons d'émission de champ ultra-stable capable de générer un faisceau d'électrons avec des énergies allant de 80 eV à 300 keV. Cette large gamme d'énergies de faisceau permet aux utilisateurs d'optimiser les conditions d'imagerie et d'analyse pour différents types d'échantillons, leur permettant d'obtenir un contraste, une résolution et une profondeur de champ supérieurs dans leurs images. Le microscope est équipé de capacités avancées de microscopie électronique à transmission corrigée par aberration (TEM), offrant une résolution et une qualité d'imagerie sans précédent pour étudier les caractéristiques et les structures nanométriques dans divers matériaux. Les correcteurs d'aberration intégrés dans le Titan G2 Cubed 80-300 de PHILIPS réduisent significativement l'aberration sphérique et chromatique, entraînant des images plus vives avec un contraste et une clarté accrus à des grossissements élevés. En outre, l'instrument dispose d'un système de balayage sophistiqué qui permet une manipulation précise et rapide des échantillons, permettant aux utilisateurs d'acquérir des images de haute qualité et d'effectuer une analyse détaillée avec une efficacité exceptionnelle. Le Titan G2 Cubed 80-300 comprend également un spectromètre à rayons X dispersif d'énergie innovant (EDS) pour l'analyse élémentaire, qui peut être utilisé pour identifier et quantifier la composition chimique des échantillons en fonction des émissions de rayons X caractéristiques. Outre ses capacités d'imagerie et d'analyse, PHILIPS/FEI Titan G2 Cubed 80-300 propose une gamme de techniques et de fonctionnalités avancées pour l'expérimentation in situ et l'acquisition de données. Le microscope peut être équipé de divers détecteurs, tels que des détecteurs d'électrons secondaires, des détecteurs d'électrons rétrodiffusés et des détecteurs STEM, pour fournir des modes d'imagerie polyvalents et améliorer la polyvalence de l'instrument pour différentes applications de recherche. De plus, le FEI Titan G2 Cubed 80-300 est également compatible avec les logiciels avancés de traitement et d'analyse des données, permettant aux utilisateurs d'extraire des informations et des informations précieuses de leurs données d'imagerie et de spectroscopie. La suite logicielle comprend des outils de reconstruction d'images, d'analyse de particules, de cartographie élémentaire et de visualisation 3D, facilitant la caractérisation et l'interprétation complètes de structures d'échantillons complexes. Dans l'ensemble, le microscope électronique à balayage PHILIPS Titan G2 Cubed 80-300 représente une plate-forme de pointe pour l'imagerie et l'analyse à haute résolution dans diverses disciplines scientifiques. Ses capacités avancées, ses performances inégalées et sa polyvalence en font un outil indispensable pour les chercheurs et les scientifiques qui cherchent à repousser les limites de la microscopie et à découvrir de nouvelles perspectives dans le micro et le nano-monde.