Occasion PHILIPS / FEI Titan X-Twin 80-300 #9119022 à vendre en France

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ID: 9119022
Taille de la plaquette: 12"
Scanning transmission electron microscope, (TEM), 12" 300 kV FEG Modular column design (3) Condenser lens system Gatan imaging filter Vibration damping platform External scan switch TEM Scripting software Burker Quantax 400 EDA system Haskris chiller Field cancelling system Gatan Ultrascan 2K camera Dark field STEM (DF) Fischione high angle annular dark field (HAADF) Bright field / dark field detector (BF/DF) Gatan Quantum GIF 965 energy filter Dual EELS mode STEM-EELS-EDS TEM/STEM 3D Tomography 2007 vintage.
PHILIPS/FEI Titan X-Twin 80-300 est l'un des microscopes électroniques à balayage (SEM) les plus puissants au monde. Il dispose de deux optiques électroniques indépendantes et de deux systèmes de diffraction indépendants, ce qui en fait un outil précieux pour l'analyse en laboratoire. FEI Titan X-Twin 80-300 a une opération entièrement automatisée, permettant à l'utilisateur d'acquérir rapidement les images et les données souhaitées. Ce microscope est capable de travailler à une variété de grossissements, du sous-nanomètre à des centaines de millimètres, et d'intégrer optiquement des images générées pour utilisation avec des programmes d'analyse 3D. Il contient également un condenseur C2 de 15 pôles qui aide à améliorer le contraste de l'image et l'éclairage supérieur de l'échantillon. En termes de matériel, PHILIPS Titan X-Twin 80-300 utilise un étage intégré chauffé, adapté à l'EBSD (diffraction par rétrodiffusion d'électrons) et à l'EDS (spectroscopie par rayons X dispersive d'énergie), permettant des analyses qualitatives et quantitatives. Il intègre également une chambre électronique MMCapsule (Metal Membrane Capsule) utile qui aide à protéger les pièces délicates contre les dommages électrostatiques pendant le fonctionnement. L'étage est relié à la station de contrôle électronique et d'acquisition de données par un câble protégé. Pour garantir une capture d'image de haute qualité, Titan X-Twin 80-300 dispose d'un détecteur de niveau d'ouverture variable, d'une précision de 0,5 nanomètre, d'un foyer bien défini pouvant atteindre 500 nanomètres (avec une résolution empirique de 1 nanomètre) et d'une gamme dynamique de 0.3-1000V. PHILIPS/FEI Titan X-Twin 80-300 propose également un large éventail de modes d'imagerie différents, tels que l'observation, la projection, la rétrodiffusion et l'imagerie par diffraction. De plus, le microscope aide à réduire les temps de traitement et de traitement des échantillons avec une variété d'outils conviviaux, y compris l'extraction d'images et de spectres, la cartographie automatisée et les observations automatiques de dérive, d'inclinaison et de stig. Dans l'ensemble, le Titan X-Twin 80-300 de FEI est un microscope électronique à balayage puissant et polyvalent conçu pour un fonctionnement fiable et précis dans un large éventail de paramètres de laboratoire. Sa combinaison de fonctions, de l'excellente capture d'images et extraction de données à un contrôle avancé et à l'analyse d'échantillons, en fait un excellent atout pour un laboratoire scientifique moderne.
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