Occasion PHILIPS / FEI Titan #9315607 à vendre en France

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ID: 9315607
System Electron sources: FEG Acceleration voltage range: 80 kV to 300 kV With preset alignment for 80 kV and 300 kV Scanning transmission electron microscopy mode Convergent beam and selected area electron diffraction modes Conventional TEM modes Point resolution in TEM mode: 0.20 nm at 300 kV Information limit: <0.1 nm STEM Resolution: 0.136 nm at 300 kV Super-twin objective lens pole piece FISCHIONE High angle annular dark field STEM detector for Z-contrast imaging BF and DF STEM detector GATAN Tridiem energy filter: Electron energy loss spectroscopy Energy-filtered TEM Filter energy spread: 0.8 eV Entrance aperture 5 mm EFTEM field of view: 20 μm (diagonal, select TEM models) Maximum diffraction angle: 120 mRad (select TEM models) Non-isochromaticity: < 1.25 eV Distortion: < 1.75 % Chromaticity: < 1.5 μm/eV Detector resolution: 2048 x 2048 pixels (UltraScan™ sensor with HCR™ technology) EFTEM readout speed: 4 frames/sec (EFTEM, 512 x 512) Viewing readout speed: > 10 frames/sec (Cinema mode, 512 x 256) Spectroscopy Filter energy resolution: 0.25 eV Attainable system resolution: 0.6 eV (0.55 eV TEM with cold FEG, 0.25 eV GIF) Detector channels per readout: 2,048 Detector dynamic range: 0 - 60,000 counts/ch Detector noise: < 6 counts/ch Maximum readout speed: > 30 spectra/sec 2K x 2K UltraScan camera No probe / Objective corrector EDX Ultimo max TLE silicon drift detector (100 mm²): Fast mapping: 200,000 Counts per second Energy peak resolution: Separate carbon Nitrogen Oxygen peaks with 50 eV FWHM.
PHILIPS/FEI Titan est un microscope électronique à balayage (SEM) de renommée mondiale qui excelle à la fois en émission de champ et en spectroscopie électronique à balayage contrôlé par la température. Avec ses performances avancées et ses multiples modes, FEI Titan est un choix idéal pour l'imagerie et l'analyse d'un large éventail de matériaux dans des domaines tels que la microélectronique, la métallographie et les sciences de la vie. La conception de PHILIPS Titan comprend deux modes de canon : un canon à émission de champ (FEG) avec mémoire intégrée, et un canon à émission de champ contrôlé thermiquement par pulvérisation de titane (TCFEG). Ces deux modes de canon peuvent être combinés pour créer des modes d'imagerie spéciaux. La FEG dispose d'un équipement intégré de contrôle de l'intensité et de la luminosité du faisceau électronique, permettant aux utilisateurs de régler l'intensité et la tension du faisceau électronique pour un contraste optimal. Titan permet également de fonctionner en mode double faisceau, ce qui permet de sonder deux types d'échantillons simultanément. Il comprend des logiciels tels que AutoFocus, Auto Comparison et FEI 3D Scan Interface (PSI). PHILIPS/FEI Titan est équipé d'un système de balayage précis qui permet un balayage graduel réglable sur une plage de 1 nm à 500 μ m. Cette unité élimine le besoin de scans grossiers, de sorte que les utilisateurs sont en mesure de scanner rapidement et avec précision avec de brèves pauses entre les étapes. Il permet également aux utilisateurs d'observer le spécimen à différents grossissements pendant le balayage. FEI Titan offre une longueur de colonne de 200 mm pour une profondeur d'imagerie supplémentaire. PHILIPS Titan est conçu pour fournir une excellente résolution avec une haute qualité d'image et flexibilité. Sa machine de détection comprend plusieurs options pour les modes photométriques, électriques et magnétiques. Il comprend également un porte-échantillon spécialement conçu à des fins d'analyse quantitative. En plus de ses fonctionnalités techniques, Titan fournit une interface utilisateur intuitive avec diverses fonctionnalités innovantes telles que la solution d'analyse prédéfinie, la cartographie des spécimens, la télécommande et la manipulation étendue des images. Ce SEM est conçu pour répondre aux exigences les plus élevées d'aujourd'hui, offrant des images et des performances supérieures. PHILIPS/FEI Titan est une puissante technologie pour toutes les applications d'imagerie et d'analyse.
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