Occasion PHILIPS / FEI V600 #293725232 à vendre en France

PHILIPS / FEI V600
ID: 293725232
Focused Ion Beam (FIB) system.
Le microscope électronique à balayage PHILIPS/FEI V600 (SEM) est un puissant outil d'imagerie pour effectuer diverses analyses sur des matériaux. Ce SEM utilise une source d'émission de champ pour produire une haute qualité, faible énergie, faible dérive électrons et faisceau ionique, ce qui permet une imagerie ultra haute résolution et une analyse structurelle détaillée ultra fine. Il peut être utilisé pour examiner une grande variété d'échantillons, allant d'une seule couche d'atomes jusqu'à de grandes macro-structures. FEI V600 a des capacités d'imagerie et de contrôle à haute résolution, y compris une gamme de détecteurs d'électrons pour recueillir des informations sur l'échantillon. Son faisceau d'électrons a un courant de fond très faible et produit des images à très haute résolution. Cela permet aux utilisateurs d'observer les détails complexes de leur échantillon, tels que les limites des grains, les défauts, les constantes de réseau et d'autres caractéristiques microstructurales. Pour la préparation des échantillons, PHILIPS V 600 propose un système automatisé de chargement, de déchargement et de transport. Cela permet aux utilisateurs de transporter facilement leurs échantillons entre les différentes étapes de la préparation. Le processus préparatoire comprend également un système d'injection de gaz pour préparer l'échantillon avant l'imagerie. De plus, le porte-échantillon est réglable et peut être utilisé pour incliner l'échantillon afin d'optimiser la qualité de l'image. V600 offre également un certain nombre de caractéristiques supplémentaires, telles que le détecteur haute résolution ESB pour la cartographie des éléments, deux sources de polarisation haute tension pour la charge des échantillons et les mesures de courant, et une gamme de chambres environnementales pour la mesure des propriétés des matériaux dans différentes conditions. De plus, le logiciel permet des applications d'image avancées, telles que les radiographies, les analyses élémentaires et les analyses de contraintes. Dans l'ensemble, le V 600 peut être utilisé pour acquérir une variété d'images et de mesures à partir de différents types d'échantillons. Avec ses capacités d'imagerie basse énergie et haute résolution, ce SEM est un outil idéal pour une variété d'applications industrielles et de recherche.
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