Occasion PHILIPS / FEI V600CE #293809777 à vendre en France
URL copiée avec succès !
Appuyez sur pour zoomer
ID: 293809777
Style Vintage: 2010
Focused Ion Beam (FIB) system
Integrated Optical Microscope (IR OM)
NanoChemix configured gases:
XeF2
H2O
O2
Cl2
W
TMCTS
(2) Gas Injection Systems (GIS):
Probe Trim (PT)
Backside circuit
2010 vintage.
PHILIPS/FEI V600CE est un microscope électronique à balayage à haute résolution (SEM) capable de produire des résolutions au niveau du nanomètre. Il est équipé de capacités d'imagerie avancées qui utilisent des électrons et permet un examen détaillé des matériaux. Le microscope électronique à balayage FEI V600CE est capable de produire des images à haute résolution avec son détecteur à colonne, un canon à émission de champ Schottky à haute résolution et un puissant amplificateur de signal ultra-rapide à faible bruit. Le canon à émission de champ Schottky fournit des électrons haute tension avec un temps de séjour court et permet l'imagerie à une vitesse élevée avec une propagation minimale du faisceau d'électrons. Le détecteur en colonne détecte, amplifie et numérise automatiquement les signaux provenant de l'interaction du faisceau d'électrons avec l'échantillon et fournit une image à l'écran. PHILIPS V600CE possède une spectroscopie à rayons X dispersive d'énergie avancée qui permet une analyse élémentaire au niveau nano. Un système de comptage des photons permet une analyse non destructive des rayons X, ce qui aide à l'identification des éléments et/ou des matériaux. V600CE a un changeur d'échantillon automatique qui permet de l'utiliser en continu. Il est capable de micrographies à haute résolution, d'imagerie à fort grossissement, d'acquisition d'images en topographie 3D, de composition résolue sur site et d'imagerie à micro texture. PHILIPS/FEI V600CE est idéal pour les chercheurs qui ont besoin d'une résolution au niveau du nanomètre ou du sous-nanomètre. Ses capacités d'imagerie sont utiles pour examiner une variété de matériaux dans leur état natal et au niveau nanométrique. C'est également un outil utile pour l'analyse métallurgique, car sa spectroscopie à rayons X dispersive d'énergie avancée est idéale pour caractériser les éléments présents dans la surface des métaux.
Il n'y a pas encore de critiques