Occasion PHILIPS / FEI Versa 3D #293670274 à vendre en France
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ID: 293670274
Style Vintage: 2010
Scanning Electron Microscope (SEM)
Detectors: ETD, ICE, STEM
Electron column
Schottky NG FEG SEM
KV Range: 350 V-30 keV
E-Beam deceleration
E-Beam fast blanker
Nanomanipulator with rotation
Plasma cleaner
Cryo-cold trap
IR Camera
Navigation camera
Low vacuum and high vacuum modes
HT ION Column: 65 nA
Stage: Hot / Cold
Scios holder
Gas injection system: Pt, Carbon, IEE
Microscope control:
Auto slice
Auto TEM
No eazy lift exchange
No OXFORD EDS Detector
No OXFORD EBSD Detector
No cold trap
Operating system: Windows 7
2010 vintage.
PHILIPS/FEI Versa 3D est un microscope électronique à balayage sophistiqué et performant (SEM) qui offre des capacités d'imagerie avancées et des fonctionnalités analytiques pour un large éventail d'applications scientifiques et industrielles. Cet instrument de pointe est conçu et fabriqué par Thermo Fisher Scientific, un leader reconnu dans la technologie de microscopie électronique. Au cœur de FEI Versa 3D est une source d'électrons d'émission de champ qui fournit une luminosité et une stabilité élevées, permettant une imagerie haute résolution avec un rapport signal/bruit exceptionnel. Le système d'optique électronique du microscope est optimisé pour un contrôle maximal du courant du faisceau et de la taille des taches, ce qui permet aux utilisateurs d'obtenir des performances d'imagerie supérieures sur une gamme de grossissements. PHILIPS Versa 3D dispose d'une scène polyvalente qui permet la manipulation d'échantillons en plusieurs dimensions, y compris les traductions X, Y, Z et les capacités d'inclinaison. Cette conception avancée facilite le positionnement précis des échantillons et la navigation facile pour les tâches d'imagerie et d'analyse. De plus, le microscope est équipé de fonctions d'automatisation avancées, telles que l'alignement automatisé des faisceaux, la focalisation et la stigmatisation, qui rationalisent le fonctionnement et améliorent l'efficacité du flux de travail. L'un des points forts de Versa 3D est ses capacités d'imagerie 3D, qui permettent aux utilisateurs d'acquérir des informations topographiques détaillées et de visualiser des structures en trois dimensions. Cela est obtenu grâce à des modes d'imagerie avancés, tels que l'imagerie stéréo, la tomographie et les techniques de tranches et de vues, qui fournissent des aperçus sur la morphologie et la structure interne des spécimens avec une clarté et une profondeur inégalées. En plus de l'imagerie haute résolution, PHILIPS/FEI Versa 3D offre une gamme de capacités analytiques qui en font un outil polyvalent pour la caractérisation des matériaux et la recherche. Le microscope est équipé de détecteurs de spectroscopie X dispersive d'énergie (EDS) pour l'analyse élémentaire et la cartographie, ainsi que de diffraction par rétrodiffusion électronique (EBSD) pour l'analyse cristallographique. Ces techniques d'analyse permettent aux utilisateurs d'identifier avec une grande précision les compositions chimiques, les structures cristallines et les distributions de phases au sein des échantillons. En outre, FEI Versa 3D est équipé de logiciels avancés pour l'acquisition, le traitement et l'analyse de données, permettant aux utilisateurs de générer des idées significatives et des résultats quantitatifs de leurs expériences d'imagerie et d'analyse. L'interface utilisateur intuitive et les flux de travail personnalisables permettent aux chercheurs d'adapter les paramètres du microscope à leurs besoins spécifiques et d'optimiser l'acquisition de données pour leurs objectifs de recherche. Dans l'ensemble, le microscope électronique à balayage 3D PHILIPS Versa représente une plate-forme de pointe pour l'imagerie haute résolution, la visualisation 3D et la caractérisation analytique d'un large éventail de matériaux et d'échantillons. Avec ses capacités d'imagerie avancées, sa conception polyvalente et ses fonctions analytiques intégrées, Versa 3D est un outil puissant pour les chercheurs, les scientifiques et les ingénieurs travaillant dans des domaines tels que la science des matériaux, la nanotechnologie, les sciences de la vie et l'industrie des semi-conducteurs.
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