Occasion PHILIPS / FEI XL 30 (ESEM) #9378140 à vendre en France

FEI XL30 est un microscope électronique à balayage (SEM) qui fournit une imagerie haute résolution des nanostructures et des nanomatériaux. L'instrument est équipé d'un canon à émission de champ PHILIPS XL30 (FEG) et d'un détecteur SE linéaire PHILIPS/FEI pour l'analyse des rayons X dispersifs en énergie (EDX). Le XL30 est capable d'obtenir des images de la plus haute qualité par rapport à n'importe quel autre SEM de sa classe. Les images haute résolution sont dues à la faible émission d'électrons et à la faible émission thermique du FEG. Ces caractéristiques permettent un fonctionnement à faible dose et un grossissement plus élevé pour produire des images de contraste élevé avec un faible bruit. De plus, le système EDX permet à l'utilisateur d'identifier la composition élémentaire de l'échantillon. L'utilisateur peut facilement acquérir des images avec divers agrandissements jusqu'à 600.000x. La distance de travail, l'inclinaison et le contraste peuvent être changés à partir de la console PC sans aucun réglage matériel. Les images peuvent être acquises dans différents modes tels que la luminosité, la rétrodiffusion, et d'autres. Le système de guidage du véhicule dans le XL30 simplifie grandement le fonctionnement et l'alignement de l'étage d'échantillonnage. Les étapes d'échantillonnage sont disponibles en plusieurs versions pour couvrir un large éventail d'applications et de types d'échantillons. Le XL30 dispose d'une position unique « Aller à » qui guide automatiquement l'étape de l'échantillon à la position la plus proche. Ceci réduit considérablement le temps d'alignement de l'échantillon dans les axes X, Y et Z. La fonction « Go To » permet également la manipulation automatisée de l'espace d'échantillonnage et de traverser pour scanner de larges zones d'un échantillon ou trouver un point d'intérêt spécifique. Dans l'ensemble, FEI XL30 est un SEM très puissant avec d'excellentes capacités d'imagerie et une large gamme d'options de balayage pour la recherche et les applications industrielles. Avec sa fonction unique « Go To » et ses étages d'échantillons étendus, le XL30 peut fournir à l'utilisateur des images haute résolution de nanostructures et de nanomatériaux.