Occasion PHILIPS / FEI XL 30 FEG #9177754 à vendre en France

ID: 9177754
Scanning electron microscope (SEM) EDS Included Currently crated and warehoused.
PHILIPS/FEI XL 30 FEG est un puissant microscope électronique à balayage très polyvalent (SEM). Cet instrument de pointe dispose d'une source d'électrons à canon à émission de champ (FEG) qui permet un haut niveau de réflectivité, ainsi que des capacités d'imagerie supérieures. Ce SEM de pointe est idéal pour un large éventail d'applications, y compris le développement de nanotechnologies, l'analyse avancée des défauts et le diagnostic des défaillances. FEI XL 30 FEG est construit avec un accélérateur robuste, auto-stabilisé et des composants supplémentaires qui assurent un fonctionnement cohérent. Cette fonctionnalité permet de maintenir des performances supérieures même après de longues périodes de fonctionnement. Le SEM intègre également un équipement sous vide qui permet une large gamme de plages de pression et peut les maintenir sur des temps de fonctionnement prolongés. Ce microscope électronique à balayage est également équipé d'un détecteur STEM haute résolution, qui permet à l'utilisateur d'observer des caractéristiques structurelles complexes au niveau atomique. Il utilise un système de traitement d'image numérique haute vitesse pour afficher des images détaillées avec un large éventail d'options de couleur. Cette unité est également capable de capacités d'analyse de données en temps réel. En outre, PHILIPS XL 30 FEG est construit avec une interface utilisateur conviviale et intuitive. Cette interface permet aux utilisateurs de naviguer dans les différentes fonctionnalités, d'ajuster les paramètres et d'enregistrer des données sur un lecteur portable ou un autre dispositif de mémoire externe. Cette conception conviviale le rend facile à utiliser même pour des utilisateurs inexpérimentés. XL 30 FEG dispose également d'une gamme impressionnante de capacités d'imagerie. Il fonctionne sur une grande variété de paramètres de tension et d'ouverture, permettant à l'utilisateur de choisir les meilleurs paramètres pour leur application spécifique. Cette machine est également équipée d'un étage interne avec des commandes automatisées, permettant un positionnement précis de l'échantillon et un réglage précis du champ de vision. Dans l'ensemble, PHILIPS/FEI XL 30 FEG est un microscope électronique à balayage très avancé qui offre des performances, une polyvalence et une facilité d'utilisation supérieures. Il présente également une sélection impressionnante de capacités d'imagerie, ce qui le rend adapté à un large éventail d'applications scientifiques et industrielles.
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