Occasion PHILIPS / FEI XL 30 FEG #9184962 à vendre en France
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ID: 9184962
FEG Scanning Electron Microscope (FEG SEM)
FEG Schottky field emitter
Adjustable accelerating voltage: 200 V to 30 kV
Resolution:
2.0 nm at 30 kV
5.0 nm at 1 kV
Detectors:
Everhard-Thornley SE/BSE (ETD)
Solid-state BSED
Manually-controlled specimen stage
IGP and Diffusion pump vacuum system
Windows 3.11 PC upgraded to Windows 2000 PC
Polaroid camera
Analytical system:
EDAX Inc Phoenix/Genesis EDX system
Liquid N2 cooled Si(Li) EDX detector 10mm²
Resolution: Mn Kα - 129 eV
SATW Window for detection
EBSD system:
HAMAMATSU Video camera
HKL Channel 5 software package for EBSD data acquisition and analysis.
PHILIPS/FEI XL 30 FEG est un microscope électronique à balayage (SEM), conçu pour produire des images à haute résolution de la surface d'un échantillon. Il utilise des faisceaux d'électrons focalisés pour générer des images de l'échantillon, fournissant des capacités analytiques puissantes. FEI XL 30 FEG utilise un canon à émission de champ (FEG) pour générer un faisceau d'électrons. La FEG est la source d'électrons la plus avancée utilisée dans les SEM, et permet des grossissements extrêmement élevés et une résolution supérieure. Les faisceaux sont balayés sur l'échantillon dans un motif raster, avec l'image formée en détectant les électrons qui sont rétrodiffusés ou émis de l'échantillon. PHILIPS XL 30 FEG est équipé d'une gamme de caractéristiques pour améliorer les performances, y compris une grande chambre pouvant contenir jusqu'à 500mm x 700mm spécimens, deux canons LN/Ar pour basse dépression, une chambre Ultra High Vacuum (UHV) et un système automatisé de transfert d'échantillons. Il dispose également d'un filtre d'énergie en colonne, permettant à l'utilisateur de sélectionner l'énergie du faisceau pour atteindre le niveau de contraste requis. XL 30 FEG comprend également une large gamme de détecteurs, y compris quatre types de détecteurs SE (électrons secondaires), deux types de détecteurs BS (électrons rétrodiffusés) et un spectromètre à rayons X dispersif d'énergie (EDS). Cette gamme de systèmes de détection offre un large éventail de capacités analytiques, telles que l'analyse élémentaire et la composition. PHILIPS/FEI XL 30 FEG est contrôlé à l'aide d'une interface graphique basée sur Windows. Cela permet à l'utilisateur d'ajuster des paramètres tels que les résolutions d'imagerie, les niveaux de vide, et le moment du cycle de vide. Le microscope possède également des fonctions d'automatisation automatisées, telles que la mise au point automatisée, pour simplifier le fonctionnement. FEI XL 30 FEG est un puissant SEM conçu pour répondre aux besoins des applications analytiques avancées. Avec son excellente résolution, ses fonctionnalités automatisées et son large éventail de capacités analytiques, il est un outil fiable et polyvalent pour étudier une grande variété de matériaux.
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