Occasion PHILIPS / FEI XL 30 SFEG #293741764 à vendre en France

PHILIPS/FEI XL 30 SFEG est un microscope électronique à balayage (SEM) qui combine une imagerie de haute qualité avec des capacités analytiques supérieures. Sa conception robuste et ses caractéristiques innovantes offrent une plate-forme polyvalente pour une variété de techniques d'imagerie et d'analyse. Ce FEI SEM utilise un canon à électrons pour produire un faisceau d'électrons qui est focalisé et scanné sur le spécimen. Le faisceau d'électrons interagit avec l'échantillon de différentes façons, générant un courant électrique ou des électrons secondaires, ainsi que des rayons X et d'autres formes de rayonnement. Ces informations sont ensuite amplifiées par la colonne électronique et enregistrées par un détecteur. FEI XL 30S FEG a une capacité de microanalyse avec un système de spectroscopie X dispersive d'énergie (EDS). Pour la composition chimique, la cartographie élémentaire et l'analyse des éléments légers, le système EDAX Genesis en option peut être installé. Avec le système EDS, ils fournissent une analyse élémentaire de trois à vingt-cinq éléments. Les fonctionnalités avancées de traitement du signal PHILIPS XL30 S-FEG permettent d'acquérir des images à des vitesses rapides (jusqu'à 1000 champs par seconde) et de générer des images de résolution supérieure (jusqu'à 0,2 nm). Ceci permet l'observation de très petits échantillons ou échantillons tels que des couches minces de matériau, ce qui ne serait pas possible avec les SEM classiques. De plus, PHILIPS/FEI XL 30 S-FEG propose une variété d'outils d'imagerie automatisés, tels que le piquage d'image intégré qui permet de saisir rapidement de grandes surfaces sous forme d'images panoramiques. La série de basculements automatisés permet l'imagerie d'échantillons épais sans avoir besoin de mouvements manuels ou de rotations. Le détecteur à gain élevé dans la lentille et le détecteur d'électrons rétrodiffusés offrent un excellent contraste de différents types de matériaux. Ces techniques de contraste peuvent également être utilisées pour des expériences de micro-gravure, ainsi que pour l'imagerie d'échantillons électriquement non conducteurs et isolants. PHILIPS XL 30 SFEG comprend également des filtres matériels, tels que l'ouverture et l'arrêt du faisceau pour réduire ou bloquer les particules dans le champ de vision. Les options d'effacement de faisceau et de sélection de zone définies par l'utilisateur permettent une analyse rapide et facile des échantillons. En résumé, FEI XL 30 SFEG est un microscope électronique à balayage avancé qui combine des capacités d'imagerie haute performance avec des options de microanalyse, des outils d'imagerie automatisés et des fonctionnalités de traitement de signal avancées pour une résolution supérieure et une acquisition rapide de données.