Occasion PHILIPS / FEI XL 30 SFEG #9255918 à vendre en France

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ID: 9255918
TMPI Sirion Scanning Electron Microscope (SEM) FEG and Turbo vacuum pump included Motorized stages: X, Y, Z, R Detectors: FEI / Type: FP 6848 FEI / Type: PW 6761 OXFORD EDS7231 Detector: Material: Silicon 133 eV Area: 10 mm² Heater: 5.1 V Substrate: 6.2 V Ramp: 1 fa Gas type: PT14+ Window type: ATW2 DBC Units: 1128-372 DBS Cable set: 1106-706 ~2000 vintage.
PHILIPS/FEI XL 30 SFEG est un microscope électronique à balayage (SEM) idéal pour les applications générales et de recherche. FEI XL 30S FEG utilise un canon à émission de champ Schottky haute résolution (FEG) pour l'imagerie précise et détaillée. Il dispose d'un équipement automatisé d'échange d'échantillons pour une manipulation et une préparation rapides et faciles. La configuration permet une imagerie à travers la lentille remarquable et des performances supérieures en microscopie électronique. PHILIPS XL30 S-FEG utilise un système électronique avancé à ultra haute résolution (UHR) avec une unité de spectroscopie dispersive d'énergie (EDS) pour l'analyse élémentaire. La machine dispose d'un détecteur 4k x 4k haute performance qui permet d'analyser des objets ultra-petits. Cet outil fournit une profondeur de focalisation exquise, un grand champ de vision et une imagerie supérieure des détails nanoscopiques. PHILIPS XL 30 S-FEG dispose d'une large gamme de capacités de mesure d'échantillons. Il permet aux utilisateurs de mesurer des images haute résolution, des nanoparticules et des films minces avec une précision nanométrique. L'actif fournit également l'imagerie filtrée de l'énergie (EFI) pour améliorer la visibilité des caractéristiques spécifiques dans les images. XL 30 SFEG utilise une chambre à vide et un modèle de pompage moléculaire turbo pour maintenir un environnement à faible vide pour une imagerie et une analyse optimales. Cette condition de faible dépression empêche les artefacts de se former et assure des images à haute résolution. Le microscope a une option de chambre environnementale qui permet aux utilisateurs de mesurer des spécimens dans diverses conditions atmosphériques. FEI XL 30 S-FEG est alimenté par un logiciel et une interface utilisateur graphique (GUI) qui permet aux utilisateurs de contrôler le fonctionnement du microscope et d'automatiser les tâches courantes. Il donne accès à de puissants outils d'analyse pour l'imagerie et l'analyse. Le logiciel est très convivial et simple, permettant aux utilisateurs de réaliser rapidement des fonctions avancées sans beaucoup de connaissances préalables. Enfin, PHILIPS XL 30 SFEG est un microscope électronique à balayage puissant et polyvalent qui est parfait pour des applications générales et de recherche. Il fournit aux utilisateurs d'excellentes capacités d'imagerie pour des applications telles que l'analyse de matériaux nanométriques et l'inspection de couches minces. Les ensembles complets de fonctionnalités, accessoires, logiciels et interface conviviale en font un excellent instrument pour une variété d'applications d'imagerie et d'analyse électronique.
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