Occasion PHILIPS / FEI XL 30 SFEG #9390243 à vendre en France

PHILIPS/FEI XL 30 SFEG est un microscope électronique à balayage avancé (SEM) capable d'imiter une variété de spécimens. Il utilise des modes de balayage basse tension, haute tension et pression variable, lui permettant de visualiser une large gamme d'échantillons avec un détail sans précédent. Équipé d'une spectroscopie dispersive d'énergie Oxford AZtec (EDS) pour l'analyse élémentaire, le FEI XL 30S FEG est un microscope de pointe pour le scientifique des matériaux modernes. PHILIPS XL30 S-FEG est basé sur un canon à électrons à faible champ d'émission sous vide (FEG), avec la possibilité supplémentaire d'utiliser un balayage à pression variable et une gamme de tension d'accélération efficace de 2-30kV. Il a une résolution spatiale allant jusqu'à 1,25 nm et dispose d'une courte durée d'impulsion pour les images avec des artefacts de charge minimale. La source d'électrons FEG permet également un afflux d'électrons, qui peuvent être adaptés pour atteindre une grande variété de modes d'imagerie, tels que l'imagerie rétrodiffusée, l'imagerie électronique secondaire et l'imagerie spectroscopique simultanée. De plus, PHILIPS XL 30S FEG est équipé de ZWN Automation, une fonctionnalité qui permet l'intégration de plusieurs instruments de microscopie tels que SEM, STEM et BIC pour des études approfondies. Le spectromètre EDS d'Oxford AZtec sur FEI XL 30 S-FEG est idéal pour l'analyse élémentaire. Grâce à ses fonctions de cartographie rapide et automatisée, l'analyse MAPS jusqu'à 0,1 m est réalisable. Il a une gamme élémentaire allant du bore (B) à l'uranium (U) et est capable de fournir des données quantitatives avec une grande précision. XL30 S-FEG dispose de fonctions automatisées sur l'interface grand écran tactile avec des détecteurs spécifiques à l'application. Ces détecteurs gèrent le courant du faisceau, la numérisation du signal et la capture d'image, ce qui permet de manipuler des paramètres d'image qui se traduisent par des images à fort contraste et à faible bruit. De plus, de nombreux filtres post-traitement sont disponibles pour améliorer le contraste, le flou, l'affûtage et la coloration. Dans l'ensemble, PHILIPS/FEI XL30 S-FEG est un excellent choix pour ceux qui ont besoin d'un SEM avancé et performant. Son large éventail de capacités d'imagerie, de paramètres d'imagerie améliorés et de capacités d'analyse élémentaire en font un choix exceptionnel pour la recherche et les applications industrielles.