Occasion PHILIPS / FEI XL 30 Sirion #293614803 à vendre en France
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ID: 293614803
FEG Scanning Electron Microscope (FEG SEM)
EDAX
ETD and BSE Detector
Chiller
Magnification: Up to 800,000x with 2 nm
Resolution:
5 nm at 10 kV or higher
5 nm at 1 kV
Electron source:
SCHOTTKY Thermionic field emission electron gun
Gun configuration control
Beam acceleration voltage range: 0.2-30 kV
Beam current range: 1 pA - 25 nA
Specimen stage:
Eucentric goniometer: 4-Axis (X, Y, Z and R)
Motorized stage with full manual override
Tilt range: -15° to 60°
Specimen chamber diameter: 284 mm
Vacuum:
Automatic vacuum interlock
Diffusion pump (Lower chamber)
(2) Ion getter pumps (Gun chamber)
Gun chamber: 2x10^-7 Pa
Specimen chamber: 2x10^-5 Pa
Vacuum regained: <5 minutes
Scanning system:
Survey mode
Scan mode
Scan rotation
Magnification rage: 20x - 800,000x
Analytical capability:
Secondary Electron (SE) detector
Back Scattered Electron (BSE) detector
Energy Dispersive X-Ray Spectrometer (EDS)
Manuals included
Voltage range: 1.0 kV - 30.0 kV.
PHILIPS/FEI XL 30 Sirion est un puissant microscope électronique à balayage (SEM) capable de fournir une imagerie et une analyse à haute résolution pour les scientifiques et les chercheurs. Le Sirion a une résolution spatiale maximale de 1.2nm, permettant une imagerie et une analyse de haut niveau des matériaux qui peuvent détecter même les caractéristiques microstructurales les plus fines. Le Sirion est équipé d'un nouvel équipement optique électronique qui a amélioré l'optique et une tension d'accélération plus élevée. Cela permet de l'utiliser dans diverses applications, telles que l'imagerie et l'analyse de matériaux nanométriques et comme outil d'examen de microcircuits. Le Sirion comprend également un système de spectroscopie de rayons X dispersifs énergétiques (EDX) avec un détecteur de rayons X dispersifs en longueur d'onde (WDS). Cette unité permet une analyse élémentaire des échantillons et peut être utilisée pour réaliser des compositions précises et complètes. Le Sirion peut être utilisé dans une variété de techniques d'imagerie et d'analyse telles que l'imagerie électronique rétrodiffusée (ESB), l'imagerie électronique secondaire (IES), l'imagerie par plan et la sondes, et l'imagerie sous vide. Le Sirion supporte également des techniques d'imagerie avancées telles qu'une machine de correction d'image à décalage de faisceau (BSICS) pour les images sans distorsion et l'acquisition automatisée de données. Le Sirion dispose également d'une série de capacités de manipulation d'échantillons, y compris un étage d'échantillonnage de haute précision et des débits d'alimentation sous vide. Ceci permet d'aligner et de manipuler les échantillons tout en restant sous vide, ce qui élimine le besoin de préparation des échantillons dans l'air. Le Sirion comprend également un outil d'échange d'échantillons, qui permet de commuter facilement entre les échantillons sans casser le vide. Dans l'ensemble, FEI XL 30 Sirion est un actif avancé de microscope électronique à balayage qui fournit une résolution d'imagerie supérieure, des capacités d'analyse élémentaire, et l'acquisition automatisée de données. C'est un outil idéal pour les applications scientifiques et industrielles, offrant une variété de capacités d'imagerie et de fonctionnalités conviviales.
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