Occasion PHILIPS / FEI XL 30 Sirion #293624757 à vendre en France

PHILIPS/FEI XL 30 Sirion est un microscope électronique à balayage (SEM) conçu pour fournir des résultats exceptionnels d'imagerie, d'analyse et de préparation d'échantillons dans un éventail d'applications et de domaines de recherche. Sa colonne SEM intègre une source d'électrons Thermo Fisher Scientific qui prolonge sa durée de vie et améliore ses performances. FEI XL 30 Sirion dispose également d'un équipement d'optique électronique de pointe qui permet des capacités d'imagerie haute résolution avec plus de détails que les SEM traditionnels. PHILIPS XL 30 Sirion est équipé de la capacité d'effectuer une variété d'analyses d'échantillons polyvalents incluant des analyses chimiques, structurelles et élémentaires. Son système avancé d'optique électronique a la capacité de prélever un échantillon de l'état initial au niveau de nano-structure. Cela permet aux utilisateurs de visualiser et de mesurer le contenu élémentaire de l'échantillon, ainsi que sa topologie, tout en une seule fois. L'instrument peut également être utilisé pour cibler certains éléments d'un échantillon et déterminer les liaisons entre eux. XL 30 Sirion comprend un ensemble de fonctionnalités avancées qui inclut une plage de grossissement plus élevée (jusqu'à 590 kV) pour des capacités d'imagerie et d'analyse améliorées, une imagerie haute résolution avec un courant de sonde plus élevé jusqu'à 10 μ A avec réglage de courant variable. Cette unité offre également un écran tactile convivial pour un fonctionnement facile, ainsi que des diagnostics de machine et l'enregistrement des erreurs pour le dépannage. Le Sirion se distingue également des SEM typiques avec ses techniques automatisées de préparation avancée des échantillons. Ces techniques facilitent la préparation des échantillons pour une imagerie et une analyse plus rapides et plus précises, ce qui réduit le nombre d'erreurs de l'utilisateur. Il est conçu pour accueillir un large éventail de dimensions d'échantillons, ce qui est idéal pour les chercheurs ou les utilisateurs industriels avec des tailles d'échantillons variables. PHILIPS/FEI XL 30 Sirion dispose également d'une large gamme de capacités de visualisation, de mesure et d'analyse. Il s'agit notamment de l'ajustement automatique des stigmates et des inclinaisons, des corrections automatiques des astigmes, de l'imagerie haute résolution, de l'imagerie tridimensionnelle et de la reconnaissance des caractéristiques, de la cartographie et de l'analyse compositionnelles, de l'analyse de la composition élémentaire et du profil de profondeur, de la résolution isoline et du contournement, des détecteurs multiples et de l'imagerie synchronisée, et de la correction automatisée des dérives.