Occasion PHILIPS / FEI XL 30 Sirion #293644232 à vendre en France

ID: 293644232
FEG Scanning Electron Microscope (FEG SEM).
PHILIPS/FEI XL 30 Sirion est un microscope électronique à balayage haute performance (SEM) qui est utilisé pour une grande variété d'applications de recherche et de diagnostic. Il est équipé de fonctionnalités avancées pour obtenir des résultats rapides et précis. FEI XL 30 Sirion possède une variété de capacités de détection, y compris des électrons secondaires, des électrons rétrodiffusés et des électrons réfléchis. Il a également une haute tension de base de 30 kV pour une meilleure résolution, ainsi qu'une source d'électrons de haute cohérence pour une acquisition rapide de données. Le détecteur de rétrodiffusion séparé est capable d'obtenir à la fois la topographie de surface et l'analyse élémentaire. PHILIPS XL 30 Sirion a un mouvement axial de 1200 mm, avec une répétabilité sous micron pour un positionnement précis de l'échantillon dans la chambre. Il dispose également d'une lentille de haut grossissement avec une distance de travail de 5,5 mm pour permettre une grande variété de tailles et de formes d'échantillons. Une vaste collection de porte-spécimens est disponible pour accueillir une gamme complète de types de spécimens. XL 30 Sirion est facile à utiliser avec une interface utilisateur intuitive, et il dispose de fonctionnalités automatisées qui permettent un alignement rapide et l'acceptation des spécimens. Divers outils d'imagerie sont disponibles pour fournir une visualisation précieuse des données, y compris la tomographie en quatre dimensions, l'imagerie à deux faisceaux et l'EDS. PHILIPS/FEI XL 30 Sirion est idéal pour les applications nécessitant un fonctionnement rapide, des résultats précis et des capacités d'imagerie avancées. Ses performances fiables et son fonctionnement efficace en font un choix idéal pour une variété d'applications de recherche et de diagnostic.
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