Occasion PHILIPS / FEI XL 30 Sirion #9108125 à vendre en France

PHILIPS / FEI XL 30 Sirion
ID: 9108125
Scanning electron microscope, 8"
PHILIPS/FEI XL 30 Sirion est un microscope électronique à balayage (SEM) offrant les dernières avancées en imagerie et analyse de surface pour les disciplines de la science des matériaux, du contrôle de la qualité industrielle et des sciences de la vie. Cette SEM polyvalente combine une technique innovante caractérisée par une haute résolution et un débit élevé avec un design fiable et facile à utiliser. Sa conception unique permet une profondeur étendue de l'imagerie de terrain, tandis que son étage automatisé permet d'acquérir de grandes surfaces sans interruption. FEI XL 30 Sirion produit des images d'une clarté et d'un détail sans précédent, avec une résolution latérale allant jusqu'à 0,9 nm et une résolution d'imagerie allant jusqu'à 70 nm. Il dispose d'une gamme de modes d'imagerie, tels que l'imagerie rétrodiffusée, le système EDS de nouvelle génération (pour l'analyse chimique), l'imagerie sous vide bas, et le champ noir annulaire à angle élevé (HAADF) pour l'analyse du contraste et de la texture. Il dispose également de capacités vidéo numériques pour l'imagerie ponctuelle des processus. PHILIPS XL 30 Sirion dispose d'un système unique de contrôle automatisé de l'accélération (AAC), qui garantit des performances d'accélération optimales et répétables. Cela garantit la cohérence des données recueillies. Ses détecteurs SE et ESB avancés peuvent collecter de 5 à 200 keV, avec de faibles niveaux de bruit et une grande sensibilité. XL 30 Sirion dispose d'une étape automatisée qui permet des acquisitions de plus grande surface sans interruption. Il peut être déplacé en trois dimensions, jusqu'à 200 mm X 200 mm, tout en fournissant des mouvements diagonaux pour l'imagerie continue à grande surface. Sa technologie d'enregistrement d'images entièrement automatisée harmonise précisément les images acquises dans de multiples champs de vues pour fournir une vue d'ensemble d'un échantillon ou d'une surface. PHILIPS/FEI XL 30 Sirion est un SEM extrêmement polyvalent et fiable qui offre aux utilisateurs une clarté, un détail et une cohérence sans précédent des résultats. Ses caractéristiques innovantes et sa profondeur étendue d'imagerie de terrain en font un choix idéal pour des applications dans les domaines des sciences des matériaux, du contrôle de la qualité industrielle et des sciences de la vie.
Il n'y a pas encore de critiques