Occasion PHILIPS / FEI XL 30 Sirion #9145946 à vendre en France

PHILIPS/FEI XL 30 Sirion est un microscope électronique à balayage (SEM) utilisé pour l'analyse de la topographie de surface, de la composition élémentaire et de la structure chimique, et de la taille des particules. Il convient à un large éventail d'échantillons, y compris les matériaux non conducteurs et auto-lumineux. Le microscope est équipé d'un canon d'émission de champ froid à grand champ, qui fournit un champ de vision jusqu'à 6,2 mm de diamètre et un niveau de résolution élémentaire extrêmement élevé. Le courant du faisceau est réglable jusqu'à 15 pA pour permettre une imagerie optimale sur la plus large gamme de types d'échantillons. Un détecteur d'électrons secondaire dans la lentille fournit une grande sensibilité et un excellent rapport signal sur bruit. Le FEI XL 30 Sirion dispose d'un lecteur d'étage mobile haute résolution, permettant un contrôle précis de la position de l'échantillon. Celui-ci est logé dans une chambre contrôlée par la température et la pression. La chambre peut accueillir une gamme de porte-spécimens, permettant l'analyse d'un large éventail de matériaux, y compris des composés organiques. Le microscope dispose également d'un système de navigation automatisé avancé, permettant aux utilisateurs de passer facilement entre les modes d'imagerie. La navigation offre une collecte automatique d'un large éventail d'images, y compris des images inclinées et agrandies avec des variations de résolutions. Les fonctions automatiques peuvent être utilisées pour examiner la topographie de surface, la composition élémentaire, la structure chimique et la taille des particules. PHILIPS XL 30 Sirion peut également être utilisé pour la reconstruction 3D, la micro-imagerie et l'analyse élémentaire en profondeur. Le mode de reconstruction 3D permet la collecte automatique d'images sous forme tridimensionnelle. On reconstruit ainsi une vue détaillée de la surface de l'échantillon en temps réel. Le mode micro-imagerie utilise l'imagerie haute résolution et amplification pour générer des images détaillées de petits échantillons. Enfin, le mode d'analyse élémentaire de niveau profond permet d'identifier des éléments dans l'échantillon jusqu'à un niveau atomique. XL 30 Sirion est un SEM avancé avec d'excellentes capacités d'imagerie. Son grand champ de vision et son détecteur d'électrons secondaire permet une analyse rapide et précise, tandis que son système de navigation automatisé permet aux utilisateurs de passer facilement d'un mode d'imagerie à l'autre. Ce système polyvalent est adapté à une gamme de matériaux, offrant une imagerie haute définition, des reconstructions 3D et une analyse élémentaire profonde.