Occasion PHILIPS / FEI XL 30 Sirion #9404297 à vendre en France

ID: 9404297
FEG Scanning Electron Microscope (FEG SEM) SDD EDS OEM Skins Backscatter detector FGSU Pump PC Operating system: Windows XP.
PHILIPS/FEI XL 30 Sirion est un microscope électronique à balayage (SEM) qui offre une expérience d'imagerie avancée. Ce SEM dispose d'un module optique de particules avec une source d'électrons d'émission de champ (FEG) et une large gamme d'accessoires d'imagerie haut de gamme. FEI XL 30 Sirion est considéré comme un instrument haut de gamme pour l'imagerie SEM et les applications analytiques en raison de sa qualité d'image et de sa résolution supérieures. PHILIPS XL 30 Sirion dispose d'une colonne électronique à pression variable (VP) avec une lentille ionique unique « poivre pot ». Cette conception innovante permet un faisceau d'électrons plus stable et une meilleure sensibilité de surface, même à des grossissements ultra-élevés. L'équipement d'imagerie utilise un UltraVac, un système de vide multi-modes capable de fonctionner dans un environnement ultra-haute et ultra-basse résolution, et offre une variété de modes d'imagerie Pour profiter des nouvelles capacités de la colonne VP et de l'unité UltraVac, XL 30 Sirion offre plusieurs modes d'imagerie dont SE, ESB et CSE. PHILIPS/FEI XL 30 Sirion est également capable de produire une résolution cristallographique extrêmement élevée. Ceci est rendu possible grâce à la combinaison d'un mode d'imagerie haute résolution (HR) et de la nouvelle machine UltraVac. Le mode HR dispose d'une taille maximale de 0,7 nm et d'une résolution jusqu'à 1 nm. L'outil UltraVac aide à minimiser la distorsion du faisceau et rend l'imagerie RH possible. En plus des capacités d'imagerie avancées, FEI XL 30 Sirion offre également plusieurs capacités d'analyse. Il s'agit notamment de la spectroscopie à rayons X dispersifs en énergie (EDX), de la diffraction par rétrodiffusion électronique (EBSD) et de l'imagerie filtrée en énergie (EFI). Les fonctions EDX, EBSD et EFI permettent aux utilisateurs d'identifier la composition des matériaux et de mieux comprendre la structure cristallographique et l'orientation. Le Sirion PHILIPS XL 30 combine la technologie la plus récente avec une utilisation conviviale, ce qui le rend facile à utiliser. Sa conception robuste et ses performances fiables le rendent idéal pour la recherche, l'industrie et l'éducation. XL 30 Sirion est un puissant microscope électronique à balayage qui offre une expérience d'imagerie supérieure et permet des applications analytiques avancées.
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