Occasion PHILIPS / FEI XL 30 #192152 à vendre en France

PHILIPS/FEI XL 30 est un microscope électronique à balayage (SEM) conçu pour fournir l'imagerie la plus haute résolution d'un échantillon. FEI XL 30 est capable d'acquérir et d'analyser des images de l'ordre de 0,2 angstrom, garantissant que même les plus petits détails sont révélés. Son système dans les lentilles permet une large gamme d'interactions échantillon-surface lorsqu'il est combiné avec une large gamme d'énergies de faisceaux d'électrons. Ces faisceaux d'électrons interagissent avec l'échantillon de trois façons : électrons secondaires, électrons rétrodiffusés et électrons de transmission. Les électrons secondaires proviennent de surfaces d'échantillons et contiennent des informations topographiques de surface. Les électrons rétrodiffusés sont générés lorsque la masse élevée, les électrons à grande vitesse entrent en collision avec l'échantillon et la matière solide et contiennent des informations cristallographiques et élémentaires. Les électrons de transmission fortement pénétrants ne sont pas affectés par l'échantillon et servent à détecter des phénomènes de sous-surface. Les capacités d'exploration de l'instrument sont encore renforcées par la technologie SEM à pression variable et les détecteurs de pression variable. La SEM à pression variable peut diminuer de manière significative, voire éliminer la formation de charges et d'artefacts dans les biomatériaux, les polymères et même les échantillons plastiques pour l'imagerie et l'analyse sans avoir besoin de revêtements conducteurs. Les détecteurs de pression variables permettent d'analyser l'énergie des électrons sélectionnés qui sont produits et déviés de la longueur de la colonne et dans le détecteur de canalisation. En tant qu'outil d'analyse, PHILIPS XL30 est capable de fournir des images SEM, amplifiées jusqu'à 800 000 x, avec une résolution de 0,2 angström, des informations élémentaires à l'aide de la spectrométrie dispersive d'énergie (EDS) et du balayage de ligne. En plus de l'imagerie SEM, PHILIPS/FEI XL30 peut également être utilisé pour chauffer, refroidir et couper dans l'échantillon, permettant des analyses confocales et 3D. Ces capacités font de XL30 un instrument puissant pour analyser et caractériser une variété de matériaux au niveau moléculaire. XL 30 est conçu pour fournir la plus haute résolution des performances d'imagerie avec un système in-lens pour fournir un large éventail d'interactions avec l'échantillon, des capacités SEM à pression variable pour réduire ou éliminer la charge des échantillons, et des capacités d'analyse détaillées telles que la cartographie EDS et le balayage de ligne. Cela fait de FEI XL30 un outil inestimable pour tout laboratoire cherchant à acquérir une compréhension approfondie de la composition et de la structure d'un échantillon.