Occasion PHILIPS / FEI XL 30 #293606873 à vendre en France

ID: 293606873
Scanning Electron Microscope (SEM).
PHILIPS/FEI XL 30 est un microscope électronique à balayage haute performance (SEM) conçu pour fournir des capacités d'imagerie et d'analyse supérieures dans un large éventail d'applications industrielles et de recherche. Cet équipement de pointe est le plus avancé de son genre et offre une résolution d'image et un contraste supérieurs, avec un courant de sonde plus élevé et des taux de balayage plus rapides que ses prédécesseurs. Cette plate-forme fiable est conçue pour répondre aux exigences exigeantes d'une grande variété d'industries, y compris les semi-conducteurs, les dispositifs médicaux et les applications métallurgiques. Le XVL30 est doté d'un canon à haute résolution, permettant des performances d'imagerie optimales et une analyse de haute précision. Il comprend un détecteur d'électrons secondaire avancé, qui fournit une imagerie précise et des mesures de la taille des particules. Le système intégré de balayage sous vide permet l'utilisation d'un large éventail de conditions environnementales, y compris la température élevée, l'humidité, et même les procédés chimiques de dépôt en phase vapeur. L'étape spécimen peut se déplacer en trois axes (X, Y et Z), assurant un contrôle précis de la zone d'intérêt. L'étage peut également tourner à 360 degrés, ce qui permet de multiplier les angles de vue pour améliorer l'imagerie et l'analyse. L'étape comprend également une unité d'échantillonnage-glissement optionnelle, qui permet un transfert rapide et facile des échantillons entre l'étape et les changeurs de spécimens automatisés. Le FEI XL 30 est également équipé d'une suite d'imagerie automatisée avancée. Ce logiciel d'imagerie professionnellement développé permet aux utilisateurs de produire des images à haute résolution avec un haut degré de précision tout en contrôlant une variété de paramètres dont la luminosité, le grossissement, le contraste, la profondeur de champ et le pas de balayage. PHILIPS XL30 dispose également d'une interface utilisateur intuitive et est compatible avec des fonctionnalités spécifiques à SEM comme l'analyse automatique des rayons X dispersifs d'énergie (EDX) et la lithographie par faisceau d'électrons (EBL). Malgré sa conception compacte, XL30 est une machine SEM puissante et fiable offrant des capacités d'imagerie et d'analyse supérieures pour un large éventail d'applications. Sa suite d'outils d'imagerie avancée, ainsi que son interface conviviale, font du XL 30 un choix idéal pour ceux qui recherchent des performances d'imagerie et d'analyse haut de gamme.
Il n'y a pas encore de critiques