Occasion PHILIPS / FEI XL 30 #293610605 à vendre en France

PHILIPS/FEI XL 30 est un microscope électronique à balayage haute performance (SEM) conçu pour fournir une résolution et une analyse supérieures. Il peut être utilisé pour étudier une grande variété d'échantillons et a une plage de grossissement allant jusqu'à 160, 000x. Le FEI XL 30 est équipé de trois détecteurs d'électrons, ce qui permet aux utilisateurs d'analyser une gamme de données d'échantillons, y compris la composition, la topographie et la distribution élémentaire. La caméra RVB numérique intégrée permet l'imagerie et l'observation des échantillons tout numérique, et la suite logicielle comprend une puissante gamme de fonctions analytiques. Le polyvalent PHILIPS XL30 est composé de cinq composants principaux, qui créent ensemble un équipement d'analyse convivial. Le canon à électrons est composé d'un filament chauffé qui envoie un faisceau fin d'électrons à l'échantillon, et cela est dirigé par le système de lentilles électromagnétiques. L'échantillon est monté dans le porte-échantillon et est isolé électriquement des autres parties des composants du microscope. Le détecteur d'électrons recueille alors et affiche les données du faisceau sur l'écran. XL30 peut fonctionner en mode basse ou haute énergie, selon le type d'analyse effectué. En mode basse énergie, l'unité fournit une imagerie haute résolution des structures de surface et de la composition, ainsi qu'une distribution élémentaire. En mode haute énergie, la machine peut être utilisée pour obtenir des informations sur la topographie de surface et les caractéristiques des matériaux en vrac. L'outil SEM est équipé de changeurs de spécimen, permettant l'automatisation des processus de chargement et de numérisation des échantillons, et il est équipé d'une interface utilisateur moderne qui permet aux utilisateurs de créer et d'accéder rapidement aux paramètres logiciels nécessaires à leur analyse. XL 30 dispose également de capacités d'imagerie et d'analyse complètes, offrant aux utilisateurs une gamme complète de fonctionnalités. Ce logiciel intégré permet une imagerie avancée tant en mode champ lumineux qu'en mode champ sombre. En outre, FEI XL30 dispose d'une gamme d'outils analytiques puissants qui peuvent être utilisés pour analyser des données de spécimens tels que EDS (spectroscopie de rayons X dispersive d'énergie), WDS (spectroscopie de rayons X dispersive de longueur d'onde), tomographie SEM et analyse d'image numérique automatisée. Dans l'ensemble, PHILIPS XL 30 est un atout SEM avancé et performant qui fournit aux chercheurs un large éventail d'outils d'imagerie et de capacités analytiques. Il est extrêmement convivial et offre une solution complète pour visualiser et analyser un large éventail de types d'échantillons.