Occasion PHILIPS / FEI XL 30 #293618038 à vendre en France

ID: 293618038
Scanning Electron Microscope (SEM).
PHILIPS/FEI XL 30 est un microscope électronique à balayage (SEM) conçu pour permettre aux chercheurs et aux scientifiques de recueillir des informations et des données au niveau microscopique. Il utilise une grande variété de capacités et de fonctionnalités pour produire des images haute résolution, ainsi que pour permettre des études étendues des surfaces d'objets. L'unité est composée d'une variété de composants, dont une source d'électrons, un contrôleur de balayage, des lentilles électromagnétiques, une chambre de préparation d'échantillons, un dispositif d'imagerie numérique et un système de vide. La source d'électrons produit un faisceau d'électrons, qui sont ensuite manipulés de différentes manières par les lentilles magnétiques, commandées par le contrôleur de balayage. Le microscope électronique à balayage basse tension permet l'imagerie de surfaces d'échantillons en détail avec des résolutions aussi faibles que les nanomètres. Un micro-manipulateur intégré peut être utilisé pour positionner les électrons émis pour un examen précis de la surface. Le système de vide maintient l'environnement interne de la machine, car un vide est essentiel au bon fonctionnement du système. Pour la préparation de l'échantillon, le microscope fournit des étapes de chauffage et de refroidissement intégrées dans la chambre de l'échantillon. Cela permet des études flexibles de l'échantillon, y compris une variété de températures et de pressions. Le dispositif d'imagerie numérique est capable de capturer des images du niveau microscopique et macroscopique. Le FEI XL 30 est adapté à une gamme de matériaux et de surfaces, y compris des métaux, des céramiques, des plastiques et des spécimens biologiques. L'appareil est de petite taille, léger, polyvalent et facile à utiliser. Il permet aux chercheurs et aux scientifiques d'analyser avec précision et fiabilité les petits échantillons tout en recueillant des informations détaillées sur la topologie de surface.
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